怎样测量荧光的圆偏振度，画出实验光路图并简要说明测量过程 椭圆偏振反射测试膜厚区别选用Si3N4薄膜Zr O薄膜两种光材料作测试象研究椭圆偏振测量薄膜厚度精度实验结表明，椭圆偏振精度较高，于数量级几十nm光薄
光的偏振实验的3个思考题， 不知道你要问的是什么，1/4玻片时，调整偏振角可以出现不同的偏振光，如45时就有圆偏振光，换其它玻片调整偏振角，只是各个偏振态的光出现的角度不同了而已的2.当入射光矢量与光片光轴平行或垂直时，出射光线为线偏振光，当入射光矢量与玻片光轴夹角为π/4时，出射光为圆偏振光3.把3个器件弄好，1/4玻片在中间，调整检偏器，也就是第二个偏振片，观察，有消光，没有大小变化的就是圆偏振光，有消光，有大小变化的就是线偏振光，没有消光的就是椭圆偏振光
椭圆偏振技术的简介 分析自样品反射之极化光的改变，椭圆偏振技术可得到膜厚比探测光本身波长更短的薄膜资讯，小至一个单原子层，甚至更小。椭圆仪可测得复数折射率或介电函数张量，可以此获得基本的物理参数，并且这与各种样品的性质，包括形态、晶体质量、化学成分或导电性，有所关联。它常被用来鉴定单层或多层堆叠的薄膜厚度，可量测厚度由数埃（Angstrom）或数奈米到几微米皆有极佳的准确性。之所以命名为椭圆偏振，是因为一般大部分的极化多是椭圆的。此技术已发展近百年，现在已有许多标准化的应用。然而，椭圆偏振技术对于在其他学科如生物学和医学领域引起研究人员的兴趣，并带来新的挑战。例如以此测量不稳定的液体表面和显微成像。1 基本原理 2 实验细节 2.1 实验装置 2.2 数据搜集 2.3 数据分析 3 定义 3.1 单波长 与 光谱 椭圆偏振技术 3.2 标准 与 广义 椭圆偏振理论(非等向性)3.3 琼斯矩阵 与 穆勒矩阵 型式（去偏极化）4 进阶实验方法 4.1 椭圆偏振成像 4.2 原位椭圆偏振 4.3 椭圆偏振孔隙测定 4.4 磁光广义椭圆偏振 5 优势
