椭圆偏振技术的实验细节 （标准）椭圆偏振测量四个史托克参数(Stokes parameters)中的两个，通常以Ψ 及 Δ来表示。入射至样品的光之偏极化状态可被分解成“s”及“p”两项（“s”成份为光之电场振汤垂直入射平面，“p”则平行）。“s”及“p”成份之振幅（强度）在反射及对其初始值做正规化之后，分别标示为 rs及 rp。椭圆偏振测量 rs与 rp之比例，此比例可以下述基本方程式来描述：其中，tanΨ为反射后之振幅比，Δ为相位移（相差）。由于椭圆偏振系测量两项之比值（或差异）而非其绝对数值，因此这技术所得的数据是相当正确且可再现的，其对散射及扰动等因素较不敏感，且不需要标准样品或参考样品。磁光广义椭圆偏振（Magneto-optic generalized ellipsometry，MOGE）是一先进红外光光谱椭圆偏振技术，用来测量在导体样品中自由电荷载子之特性。藉由外在磁场，便有可能独立地决定电子密度（en：Electron density）、光学之电子移动力（EN：electron mobility）参数及自由电荷载子之有效质量（en：effective mass）。在无磁场的状态下，只可能取得其中两项自由电荷载子参数。
椭圆偏振光发展历史 光的电矢量末端在垂直于传播方向的平面上描绘的轨迹为一圆的偏振光，在椭圆偏振光图1的装置中，如果
如何用实验的方法区别自然光，线偏振光，圆偏振光，椭圆偏振光以及部分偏振光。 用实验的方法区别自然光，线偏振光，圆偏振光，椭圆偏振光以及部分偏振光方法：一、器材：偏振片，1/4玻片。二、具体步骤：1.用偏振片进行观察，若光强随偏振片的转动没有。
