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跪求用椭圆偏振法测量薄膜厚度及折射率的实验数据 椭圆偏振法历史
椭圆偏振技术的实验细节 (标准)椭圆偏振测量四个史托克参数(Stokes parameters)中的两个,通常以Ψ 及 Δ来表示。入射至样品的光之偏极化状态可被分解成“s”及“p”两项(“s”成份为光之电场振汤垂直入射平面,“p”则平行)。...
椭圆偏振技术的实验细节 (标准)椭圆偏振测量四个史托克参数(Stokes parameters)中的两个,通常以Ψ 及 Δ来表示。入射至样品的光之偏极化状态可被分解成“s”及“p”两项(“s”成份为光之电场振汤垂直入射平面,“p”则平行)。...