人工加速老化试验的国家标准是什么?
如何计算mosfet寿命 我有mosfet的datasheet,不知道如何计算它的寿命。有谁知道,请不吝赐教。通过对不同氧化层厚度的 N-MOSFET在各种条件下加速寿命实验的研究,发现栅电压。
如何通过加速寿命试验的方法评估器材在高原环境下的寿命? 通过加速寿命试验评估器材在高原环境下的寿命需要控制哪些因素,需要模拟哪些环境因素?
加速寿命试验的简介 加速寿命试验的统一定义最早由美罗姆航展中心于1967年提出,加速寿命试验是在进行合理工程及统计假设的基础上,利用与物理失效规律相关的统计模型对在超出正常应力水平的加速环境下获得的信息进行转换,得到产品在额定应力水平下的特征可复现的数值估计的一种试验方法。简言之,加速寿命试验是在保持失效机理不变的条件下,通过加大试验应力来缩短试验周期的一种寿命试验方法。加速寿命试验采用加速应力水平来进行产品的寿命试验,从而缩短了试验时间,提高了试验效率,降低了试验成本。进行加速寿命试验必须确定一系列的参数,包括(但不限于):试验持续时间、样本数量、试验目的、要求的置信度、需求的精度、费用、加速因子、外场环境、试验环境、加速因子计算、威布尔分布斜率或β参数(β表示早期故障,β>;1 表示耗损故障)。用加速寿命试验方法确定产品寿命,关键是确定加速因子,而有时这是最困难的。一般用以下两种方法。
加速寿命试验的方法
加速寿命试验的类型 按照试验应力的加载方式,加速寿命试验通常分为恒定应力试验、步进应力试验和序进应力试验三种基本类型,如图 3.1 所示。它们分别表示了三种基本加速寿命试验的应力加载历程。1、恒定应力试验(Constant-Stress Testing:CST)其特点是对产品施加的“负荷”的水平保持不变,其水平高于产品在正常条件下所接受的“负荷”的水平。试验是将产品分成若干个组后同时进行,每一组可相应的有不同的“负荷”水平,直到各组产品都有一定数量的产品失效时为止。恒定应力试验的应力加载时间历程见图 1(a)。2、步进应力试验(Step-Up-Stress Testing:SUST)此试验对产品所施加的“负荷”是在不同的时间段施加不同水平的“负荷”,其水平是阶梯上升的。在每一时间段上的“负荷”水平,都高于正常条件下的“负荷”水平。因此,在每一时间段上都会有某些产品失效,未失效的产品则继续承受下一个时间段上更高一级水平下的试验,如此继续下去,直到在最高应力水平下也检测到足够失效数(或者达到一定的试验时间)时为止。步进应力试验的应力加载时间历程见图 1(b)。3、序进应力加速寿命试验(Progressive Stress Testing:PST)序进应力试验方法与步进应力试验基本相似,区别在于序进应力试验加载的。
LED灯具加速老化寿命测试常用的方法有哪些,每种方法的优缺点 LED光源的最大特点就是寿命长,可达到50000~100000小时,长时间的监测其光衰情况是不实际的,因此,本标准将通过一种加速寿命试验的方法来预测LED照明灯具的寿命。适用范围本标准适用于各类LED照明灯具的寿命测试,不包含灯具的电源部分的测试。技术要求把LED灯具的光输出为初始光输出的70%作为寿命判断失效的指标。试验方法一结温是影响LED光衰减的重要原因。结温的升高会使LED光衰很快。LED在高电流下工作会产生更多得热量,从而加速老化。本试验方法采用不同的驱动电流,选取5只LED灯具,在25℃环境温度下,用不同电流进行加速寿命试验,得出光输出衰减的数学模型。数学模型 y=exp(-αt)α=m×exp(nI)其中y表示相对光输出,α表示衰减常数,t为点灯时间,m、n为常数,I为测试电流。根据不同电流下的得到的关于y和t的测试数据,最终得出关于不同灯具的衰减系数α,从而得出光通维持率在70%的寿命值t70%试验方法二采用温度作为恒定的加速应力,推算出在25℃下LED灯具失效判据70%时的期望寿命。选取5个相同规格的LED灯具,调节烘箱的温度,分别在50℃、80℃、100℃、120℃、150℃ 条件下,在额定电流、恒流条件作为恒定加速的条件。记录5组LED可靠性试验过程。