椭圆偏振仪测薄膜厚度优点 椭圆偏振法测薄膜厚度测量时，投射到样品的入射光的入射角是多少度

椭圆偏振技术的基本原理 此技术是用来测量“光在反射或穿透样品时，其偏振性质的改变”这样一个数据实验。通常，椭圆偏振多在反射模式下进行。偏振性质的改变主要是由样品的性质，如厚度、复折射率或介电性质（参见英文版Dielectric functi...