【泰克电源设计与测试】致工程师系列之五： 优化宽禁带材料器件的半桥和门驱动器设计

现代宽禁带功率器件(SiC, GaN)上的开关晶体管速度越来越快，使得测量和表征成为相当大的挑战，在某些情况下几乎不可能实现。隔离探测技术的出现改变了这种局面，通过这一技术，设计人员终于能够放心地测量以前回避的半桥和门驱动器波形。通过详细了...