对某种新品电子元件进行寿命终极度实验．情况如下： （1）频率分布表寿命（h）频数 频率 100-200 20 0、10 200-300 30 0、15 300-400 80 0、40 400-500 40 0、20 500-600 30 0、15 合计 200 1（2）前2个小矩形面积和为0.1+0.15=0.25故0.5-0.25=0.250.250.4×100+300＝362.5中位数为362.5
某元件的寿命服从指数分布，平均寿命1000小时，求3个这样的元件使用了1000小时，至少已有一个损坏的概率. 原件服从指数分布设参数为λ，则其概率密度函数为f(x)=λe^(-x)分布函数为F(x)=1-e^(-λx)其均值EX=1/λ=1000于是参数λ=1/1000=0.001某个原件使用在1000小时内损坏的概率即P(X≤1000)F(1000)-F(0)1-e^(-0.001×1000)-(1-e^0)1-1/e第二步求3个原件至少损坏1个的概率3个原件相当于做了3次贝努力试验，n=3每次损坏的概率为1-1/e p=1-1/e至少损坏一个不容易求，转求逆事件-没有损坏 k=0于是 3个原件都没损坏的概率P(X=0)=p^k×q^(n-k)=p^0×(1-p)3=1×(1-(1-1/e))3=1/e3于是所求3个原件至少损坏1个的概率P(X≥1)=1-P(X=0)=1-1/e3
请教有关电子元器件的使用寿命？ 要求供应商、本单位技术部门等提供这些产品的标准或技术文件，在这些文件中可以查到型式试验或例行试验的内容，其中会有老化或寿命试验的方法、设备或装置、技术要求、合格。
