椭圆偏振技术的实验细节 （标准）椭圆偏振测量四个史托克参数(Stokes parameters)中的两个，通常以Ψ 及 Δ来表示。入射至样品的光之偏极化状态可被分解成“s”及“p”两项（“s”成份为光之电场振汤垂直入射平面，“p”则平行）。“s”及“p”成份之振幅（强度）在反射及对其初始值做正规化之后，分别标示为 rs及 rp。椭圆偏振测量 rs与 rp之比例，此比例可以下述基本方程式来描述：其中，tanΨ为反射后之振幅比，Δ为相位移（相差）。由于椭圆偏振系测量两项之比值（或差异）而非其绝对数值，因此这技术所得的数据是相当正确且可再现的，其对散射及扰动等因素较不敏感，且不需要标准样品或参考样品。磁光广义椭圆偏振（Magneto-optic generalized ellipsometry，MOGE）是一先进红外光光谱椭圆偏振技术，用来测量在导体样品中自由电荷载子之特性。藉由外在磁场，便有可能独立地决定电子密度（en：Electron density）、光学之电子移动力（EN：electron mobility）参数及自由电荷载子之有效质量（en：effective mass）。在无磁场的状态下，只可能取得其中两项自由电荷载子参数。
椭圆偏正光法 怎样用椭圆偏正光法测薄膜厚度 偏正光？偏振光吧 椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率 椭偏法测量的基本思路是，起偏器产生的线偏振光经取向一定的1/4波片后成为。
光的偏振：1，这样检测椭圆偏振光的形状？当测出椭圆形状不对称时，试分析其原因.2，怎样才能得到圆偏振 让一束线偏振光的方位以和四分之一波片的快轴方向夹角为45°穿过波片，得到圆偏振光.波片的作用是使得偏振的x分量和y分量之间的相位延迟.二分之一波片的相位延迟为pai的整数倍，四分之一波片的相位延迟是1/2π的整数倍.检测椭圆偏振光可以用偏振态测量仪.
