求助！关于寿命试验的，电子元器件的或者其他东西的都行，谁知道现在寿命试验模型或者寿命评估结果与实际 寿命试验机是试验机其中一类用来试验或验证产品设备在特定的环境模拟下能否适于使用、有效完成其功能的时间、有效使用次数、及检测出其老化疲劳值的试验机（也就是检测出产品设备在正常工作或加速工作状态下的极限“保质期”）。
5个独立工作的电子元件组成一系统，每个元件的使用寿命Xi(i=1，2，……5)均服从参数……一道概率统计的题 指数分布的密度函数为f(x)=λe^(-λx)，式中x＞0、λ＞0；当x≦0时，f(x)=0。平均寿命为E(x)=T=1/λ[∫(0→+∞)xf(x)dx=1/λ]；(1)5个相同的独立工作的电子元件组成串联系统，设这时总的失效率为λz，则λz=λ1+λ2+.+λ5=5λ，所以系统寿命为Tz=1/λz=1/(5λ)，即Tz=t/5，即系统寿命是单个电子元件的1/5。(2)5个相同的独立工作的电子元件组成并联系统，总失效率1/λz=1/λ1+1/λ2+.+1/λ5=5/λ，所以系统寿命为Tz=1/λz=5/λ，即Tz=5t，即系统寿命是单个电子元件的5倍。
电子元器件的寿命试验属于( )。A．全数检验 B．破坏性试验 C．最终检验 D．流 参考答案：B解析：破坏性检验是指将被检样品破坏(如在样品本体上取样)后才能进行检验；或者在检验过程中，被检样品必然会损坏和消耗。破坏性检验包括：①零件的强度试验；。
