帮个忙朋友们！求助！华中高性价比源表测试方法，源表需要预定吗？？ 你好，如果是三轴的线缆就直接连到源表后面，两轴的就需要转换头转成三轴的。
请问NI PXIe-4139功能是什么？有没有熟悉这块的？ 全新的NI PXIe-4139系统源测量单元(SMU)通过单槽PXI Express模块提供了高性能、高精确度和高速度。这款SMU在性能、精确度和速度的优势使其非常适用于各种不同的应用，包括板载级测试以及使用IC（PMIC和RFIC等）和分立元件（LED和光学收发仪等）来进行的制造测试或实验室特性记述。对于高通道数应用，使用者可使用4U PXI机箱来实现高达17个SMU通道。
什么是半导体参数分析仪，或者叫半导体器件分析仪？ 半导体参数分析仪（2113器件分析仪）5261是一种集多种测量和分析功4102能于一体的测试仪器，可准确执行电流1653-电压（IV）和电容测量（CV（电容-电压）、C-f（电容-频率）以及 C – t（电容-时间）测量），并快速、轻松地对测量结果进行分析，完成半导体参数测试。半导体参数测试是确定半导体器件特征及其制造过程的一项基础测量。在参数测试中，通常需要进行 IV 测量，包括分辨率低至 fA（毫微微安培）的小电流测量和高达 1 MHz 的CV 测量，并对主要特征/参数进行分析。虽然半导体参数分析仪的设计初衷是进行半导体评测，但因其优越的性能、强大的功能以及出色的易操作性，现已在各种材料、器件和电子器件的 IV 和 CV 表征中得到广泛应用。半导体参数分析仪可为表征任务提供更高的性能、更强的可用性以及更高的效率。参数分析仪集多种测量资源于一身，可轻松进行 IV 和 CV 测量，无需汇集或集成多种仪器，例如电源、电压表、电流表、LCR 表、开关矩阵等。参数分析仪的主要测量元器件是电源/测量单元（SMU）。SMU 是一种将电压/电流源功能和电压/电流表功能结合于单一模块中的测量模块。由于该参数分析仪将电源和测量电路紧密集成，所以相比使用多种独立仪器进行。
