椭圆偏振技术的优势 相较于标准的反射强度测量方法，椭圆偏振有许多优点：椭圆偏振量测在光谱中每个波长可取得至少两个参数，如果采用广义椭圆偏振，则可在各波长取得高达16个参数。因其并非量测光之实际强度，而是量测光之强度比例，椭圆偏振较不受光源之不稳定性或是大气环境吸收光之影响。毋需测量参考物。不用进行Kramers-Kronig分析（en：Kramers-Kronig relation），即可取得介电性质（或折射率）之实部及虚部数值。椭圆偏振技术在研究非等向性的样品测量其反射性质，更具其优势。
椭圆偏振技术的实验细节 （标准）椭圆偏振测量四个史托克参数(Stokes parameters)中的两个，通常以Ψ 及 Δ来表示。入射至样品的光之偏极化状态可被分解成“s”及“p”两项（“s”成份为光之电场振汤垂直入射平面，“p”则平行）。“s”及“p”成份之振幅（强度）在反射及对其初始值做正规化之后，分别标示为 rs及 rp。椭圆偏振测量 rs与 rp之比例，此比例可以下述基本方程式来描述：其中，tanΨ为反射后之振幅比，Δ为相位移（相差）。由于椭圆偏振系测量两项之比值（或差异）而非其绝对数值，因此这技术所得的数据是相当正确且可再现的，其对散射及扰动等因素较不敏感，且不需要标准样品或参考样品。磁光广义椭圆偏振（Magneto-optic generalized ellipsometry，MOGE）是一先进红外光光谱椭圆偏振技术，用来测量在导体样品中自由电荷载子之特性。藉由外在磁场，便有可能独立地决定电子密度（en：Electron density）、光学之电子移动力（EN：electron mobility）参数及自由电荷载子之有效质量（en：effective mass）。在无磁场的状态下，只可能取得其中两项自由电荷载子参数。
跪求用椭圆偏振法测量薄膜厚度及折射率的实验数据 椭圆偏振光法测定介质薄膜的厚度和折射率在现代科学技术中，薄膜有着广泛的应用.因此测量薄膜的技术也有了很大的发展，椭偏法就是70年代以来随着电子计算机的广泛应用而发展起来的目前已有的测量薄膜的最精确的方法之一.椭偏法测量具有如下特点：能测量很薄的膜（1nm），且精度很高，比干涉法高1-2个数量级.是一种无损测量，不必特别制备样品，也不损坏样品，比其它精密方法：如称重法、定量化学分析法简便.可同时测量膜的厚度、折射率以及吸收系数.因此可以作为分析工具使用.对一些表面结构、表面过程和表面反应相当敏感.是研究表面物理的一种方法椭偏仪的光路图椭偏仪的基本原理入射光的P分量入射光的S分量反射光的P分量和S分量的比值—椭圆参量r=RP/Rs=tanyexp(iD)=f(n1，n2，n3，f1，d，l）
如何用实验的方法区别自然光，线偏振光，圆偏振光，椭圆偏振光以及部分偏振光。 用实验的方法区别自然光，线偏振光，圆偏振光，椭圆偏振光以及部分偏振光方法： 一、器材：偏振片，1/4玻片。二、具体步骤： 1.用偏振片进行观察，若光强随偏振片的转动。
椭圆偏振和反射法测试膜厚方法的区别
求偏振光的观察与分析的课后思考题答案4道题 哈哈~http：//wenku.baidu.com/view/b71d7e12ff00bed5b9f31dcb.html
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