关于数电中寄存器的一个问题 这是一个好问题，为此我专门翻看数电书关于这个问题的相关知识。下面我就以传输门控逻辑D触发器为例来解释一下这个问题。我所理解的时钟信号就是一个使能信号。也就是下面的信号C。电路图来自于华科版《数字电子技术》的第214到215面通过这个图你可以看出，当使能等于1，也就是C为高电平的时候，传输门打开，等效于电路图b，显而易见，Q=D；完成数据的传输。当C为低电平的时候，等效于电路图c，也就相当于一个基本的锁存器，可以保持信号不变。这也就是你困惑的吧。希望可以帮助到你。
数电实验实验五、六触发器、计数器 原发布者：郁的心实验五触发器的逻辑功能测试及移位寄存器一、实验目的1．掌握JK和D触发器的逻辑功能2．掌握集成触发器的使用方法3．学习移位寄存器的构成方法二、实验内容1．测试双JK触发器74LS76的逻辑功能。2．测试双D触发器74LS74的逻辑功能。4．用二片74LS74构成四位移位寄存器。三、实验步骤1．从74LS76中任选一个JK触发器，将其、J、K端接逻辑开关输入插口，CP端接单次脉冲源，Q端接至逻辑电平显示输入插口。按表11-1测试其逻辑功能并记录结果。2．从74LS74中任选一个D触发器，按表11-2测试其逻辑功能并记录结果。方法同上。表11-1表11-2从图11-13．用74LS74构成四位移位寄存器。⑴图11-1是D触发器构成的四位移位寄存器，按图接线。根据74LS74引脚排列，标出引脚号。⑵数据输入端接至逻辑开关输出插口，各触发器的输出端Q接至逻辑电平显示输入插口。⑶工作之初请零，在数据输入端送入相应信号。使其经过4个移位脉冲后，输出为“1101”，将工作过程记录于表11-3中。表11-3四、简答题1．在图11-2中经过一个CP脉冲后，JK触发器为何种状态？JK触发器为“1”态。2．用74LS76的JK触发器转换成的D触发器与74LS74的D触发器在工作中有什么不同之处？图11-2前者在时钟脉冲后沿。
计算机组成原理实验报告+++数据通路实验 最低0.27元开通文库会员，查看完整内容>；原发布者：减肥陈数据通路组成实验一、实验目的（1）将双端口通用寄存器组和双端口存储器模块联机；（2）进一步熟悉计算机的数据通路；（3）掌握数字逻辑电路中故障的一般规律，以及排除故障的一般原则和方法；（4）锻炼分析问题与解决问题的能力，在出现故障的情况下，独立分析故障现象，并排除故障。二、实验电路图9．14示出了数据通路实验电路图，e69da5e887aa3231313335323631343130323136353331333433623766它是将前面进行的双端口存储器实验模块和一个双端口通用寄存器组模块连接在一起形成的，存储器的指令端口不参与本次实验，通用寄存器组连接运算器模块，本实验涉及其中的操作数寄存器DR2。由于RAM是三态门输出，因而可以将RAM连接到数据总线BUS上。此外，BUS上还连接着双端口通用寄存器组。这样，写入RAM的数据可由通用寄存器提供，而从RAM读出的数据也可送到通用寄存器保存。RAM和DR2在前面的实验中使用过。对于通用寄存器组RF，它由一个在系统可编程（InSystemProgramable）芯片ispLSI 1016固化了通用寄存器组的功能而成，其功能与双端口寄存器组MC14580相类似，内含四个8位的通用寄存器，带有一个输入端口和两个输出端口。
数字逻辑电路实验的图书目录 第1章 数字电路实验基础1.1 概述1.2 实验的基本过程1.2.1 实验预习1.2.2 实验中的EDA仿真1.2.3 实验中的操作规范1.2.4 布线原则1.2.5 数字电路测试1.2.6 数字电路的故障查找和排除1.2.7 实验记录和实验报告1.3 数字集成电路简介1.3.1 概述1.3.2 TTL器件的特点和工作条件1.3.3 TTL器件使用须知1.3.4 CMOS数字集成电路的特点1.3.5 CMOS器件使用须知1.3.6 数字IC器件的封装1.3.7 数字电路逻辑状态1.4 数字实验箱简介第2章 集成逻辑门电路2.1 集成逻辑门电路实验目的与要求2.2 集成逻辑门电路基础知识2.2.1 集成逻辑门电路的类型及特点2.2.2 典型门电路芯片2.2.3 TTL门电路的主要参数2.2.4 集成门电路的使用规则2.3 门电路的EDA仿真2.4 集成逻辑门功能测试2.5 门电路故障的分析及诊断2.6 实验报告及思考题第3章 组合逻辑电路3.1 全加器3.1.1 全加器实验目的与要求3.1.2 全加器基础知识3.1.3 全加器的EDA仿真3.1.4 全加器电路3.1.5 基于VHDL实现l位全加器3.1.6 组合逻辑电路故障检测3.1.7 实验报告及思考题3.2 译码器3.2.1 译码器实验目的与要求3.2.2 译码器基础知识3.2.3 译码器的EDA仿真3.2.4 译码器电路3.2.5 基于VHDL。
最低0.27元开通文库会员，查看完整内容>；原发布者：Q梦飞翔数字电路实验注意事项及基本要求1.1数字集成电路的分类、特点及注意问题当今，数字电子电路几乎已完全集成化了。因此，充分掌握和正确使用数字集成电路，用以构成数字逻辑系统，就成为数字电子技术的核心内容之一。集成电路按集成度可分为小规模、中规模、大规模和超大规模等。小规模集成电路（SSI）是在一块硅片上制成约1～10个门，通常为逻辑单元电路，如逻辑门、触发器等。中规模集成电路（MSI）的集成度约为10～100门/片，通常是逻辑功能电路，如译码器、数据选择器、计数器、寄存器等。大636f70793231313335323631343130323136353331333433623766规模集成电路（LSI）的集成度约为100门/片以上，超大规模（VLSI）约为1000门/片以上，通常是一个小的数字逻辑系统。现已制成规模更大的极大规模集成电路。数字集成电路还可分为双极型电路和单极型电路两种。双极型电路中有代表性的是TTL电路；单极型电路中有代表性的是CMOS电路。国产TTL集成电路的标准系列为CT54/74系列或CT0000系列，其功能和外引线排列与国际54/74系列相同。国产CMOS集成电路主要为CC（CH）4000系列，其功能和外引线排列与国际CD4000系列相对应。。
移位寄存器 实验报告 最低0.27元开通文库会员，查看完整内容>；原发布者：zip0012实验四2113：移位寄存器和计数器的设计实5261验室：实验台号：日期：专4102业班级：姓名：学号：一、实验1653目的1.了解二进制加法计数器的工作过程。2.掌握任意进制计数器的设计方法。二、实验内容（一）用D触发器设计左移移位寄存器（二）利用74LS161和74LS00设计实现任意进制的计数器设计要求：以实验台号的个位数作为所设计的任意进制计数器（0、1、2任选）。三、实验原理图1.由4个D触发器改成的4位异步二进制加法计数器（输入二进制：11110000）2.测试74LS161的功能3.熟悉用74LS161设计十进制计数器的方法。1利用置位端实现十进制计数器。2利用复位端实现十进制计数器。四、实验结果及数据处理1.左移寄存器实验数据记录表要求：输入二进制：111100002.画出你所设计的任意进制计数器的线路图（计数器从零开始计数），并简述设计思路。8进制利用复位法实现8进制计数器，8=1000B，将A端同与非门相连，当A端=1时，使复位端获得信号，复位，从而实现8进制。五、思考题1.74LS161是同步还是异步，加法还是减法计数器？答：在上图电路中74LS161是异步加法计数器。2.设计十进制计数器时将如何去掉后6个计数状态的？答：通过。
实训报告参考：四位移位寄存器 当第二个CP到来时，接入FF2的D端是FF3的输出1，则有D3=1，D2=1/D3和D0仍为0，由此推论第三个CP到来时，D3=0，D2=1/D0=0，第四个CP到来时，寄存器状态由左向右依次为1011，。
