【求助】如何计算晶粒度 截线法测量晶粒尺寸公式

测量宏观晶粒尺寸大小怎么测？1 问：晶体的大小由什么决定啊在生产过程 答：主要是与结晶的工艺有关，如降温的速度、晶体的形状、晶核的形状等等。如果是实验室的话，加。晶粒截距和晶粒尺寸是一样的吗？在我们知道晶粒度的情况下怎么测量出晶粒的尺寸？ 两个不是一个概念，但晶粒度和晶粒截距有对应关系。晶粒度指的是单位体积内晶粒的个数，在实践中。我们一般是通过测量晶粒截距，然后利用对应关系，推测出晶粒度。一般是在金相图中任意取3条（或以上）同样长度的线和晶粒相交，算出平均晶粒截距，而后通过晶粒截距和晶粒度之间的对应关系，算出晶粒度。纯手工，希望对你有帮助，如果有不清楚的地方，可以追问。XRD晶粒尺寸计算 利用谢乐公式来计算谢乐公式的应用方法Dc=0.89λ/(B cos θ)(λ为X 射线波长，B为衍射峰半高宽，θ 为衍射角)双线法（Williams-Hall）测定金属晶体中的微观应力 晶块尺寸小于0.1μm，且有不均匀应变时衍射线宽化。可用谢乐方程或Hall法作定量计算。1 衍射线宽化的原因 用衍射仪测定衍射峰的宽化包括仪器宽化和试样本身引起的宽化。试样引起的宽化又包括晶块尺寸大小的影响、不均匀应变（微观应变）和e799bee5baa6e59b9ee7ad9431333262356662堆积层错（在衍射峰的高角一侧引起长的尾巴）。后二个因素是由于试样晶体结构的不完整所造成的。2 谢乐方程 若假设试样中没有晶体结构的不完整引起的宽化，则衍射线的宽化仅是由晶块尺寸造成的，而且晶块尺寸是均匀的，则可得到谢乐方程：式中Size表示晶块尺寸（nm），K为常数，一般取K=1，λ是X射线的波长(nm)，FW（S）是试样宽化(Rad)，θ则是衍射角(Rad)。计算晶块尺寸时，一般采用低角度的衍射线，如果晶块尺寸较大，可用较高衍射角的衍射线来代替。此式适用范围为1-100nm。3 微观应变引起的线形宽化 如果存在微观应力，衍射峰的加宽表示为：式中Strain表示微观应变，它是应变量对面间距的比值，用百分数表示。4 Hall方法 。

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