扫描隧道显微镜-化学??? 扫描隧道显微镜根据量子隧道效应来获取反映样品表面形貌及电子态图象的一种新型显微镜,简称STM。是继场离子显微镜(FIM)和透射式电子显微镜(TEM)之后,在20世纪80年代初。
扫描隧道显微镜是什么东西:根据量子隧道效应来获取反映样品表面形貌及电子态图象的一种新型显微镜,简称STM。是继场离子显微镜(FIM)和透射式电子显微镜(TEM)之后,在20。
x射线光电子能谱为什么是表面灵敏的分析技术 sysu?想啥呢抄书吧 X射线光电子能谱技术(XPS)是电子材料与元器件显微分析中的一种先进分析技术。由于它可以比俄歇电子能谱技术更准确地测量原子的内层电子束缚能及其。
扫描隧道显微镜-化学-阿里巴巴生意经化工知识 扫描隧道显微镜根据量子隧道效应来获取反映样品表面形貌及电子态图象的一种新型显微镜,简称STM。是继场离子显微镜(FIM)和透射式电子显微镜(TEM)之后,在20世纪80年代初。
人工核辐射测量方法 12.3.1 X荧光方法X荧光方法是一种通过测量元素的特征X射线来进行物质成分分析的人工核物探方法。12.3.1.1 X荧光方法工作原理(1)特征X射线及其谱结构X射线是一种低能电磁辐射,具有波、粒二象性,它的产生过程却与其他电磁辐射(γ射线,轫致辐射等)不同。高能粒子(电子、质子、软γ射线或X射线)与靶物质原子发生碰撞时,从原子的某一壳层逐出一个电子,于是在该壳层出现一个电子空位。这时原子处于激发态,其外层能量较高的电子就发生跃迁以充填电子空位,并将多余的能量(两壳层的能量差)以X射线的形式释放出来。能引起内层电子跃迁的入射粒子的最低能量称为吸收限。我们可以将原子的K、L、M等各层的吸收限表示为Kab、Lab、Mab等。当激发能量E0>Kab时,K层出现电子空位,L、M或N层电子充填该空位,这时释放的X射线称为K系X射线;当E0>Lab时,L层出现电子空位,M、N层电子充填该空位,释放出的X射线称为L系X射线,等等。由于每个电子壳层存在若干亚层(电子轨道),使得X射线更趋复杂化。例如K系X射线又分为:L层各亚层电子跃到K层形成的Kα1、Kα2线,M、N层各亚层电子跃迁到K层时形成的Kβ1、Kβ2、Kβ3线等,且它们之间的X射线照射量率差别很大。其余。
特征X射线的谱特征 在原子的2113内层出现电子空位是产5261生特征X射线的条件,而内4102层电子在各能级之间跃迁是产生特征X射线的原1653因。理论和实验都已证明这种跃迁是有规律的,受电子跃迁选择定则所限制,只有符合选择定则的两能级之间才有电子跃迁产生X射线。能引起内层电子跃迁的入射粒子的最低能量称之为吸收限。K层电子的吸收限表示为Kab,同样,还有Lab、Mab等。对于K层来说,当激发能量E0>;Kab时,K层出现电子空位,L层的电子填充K层空位,放出的光子能量为L层电子结合能(EL)与K层壳层电子的结合能(EK)之差(EL-EK),称Kα特征X射线。若是M层电子跃迁至K层空位,放出的电子能量为M壳层电子结合能与K壳层结合能之差(EM-EK),称Kβ特征X射线。又由于L、M电子分别处于不同的分层,如LⅢ分层电子跃迁到K层产生的能量为ELⅢ-EK的Kα1特征X射线,由LⅡ跃迁到K层产生的能量为ELⅡ-EK的Kα2特征X射线。它们的能量和产生的几率都有差别。同样,由M各分层跃迁到K层,根据不同分层将产生Kβ1、Kβ2等能量不同的特征X射线,总称为K系特征谱线。如果原子电离形成的电子空位出现在L壳层,由M、N等外层电子充填,则发射的X射线,总称为L系特征谱线。同样,也可能产生M系特征谱线。如图4-1所示。
石墨烯是什么 石墨烯是 是一种碳元素的平面六角的排练组成的物质,性能优异,硬度目前了解最大,用途广泛.1 基本信息 石墨烯(Graphene)的命名来自英文的graphite(石墨)+-。