什么是开关寿命试验机？ 一、基本简介：1、依据GB16915.1-2003、GB15092.1-2003和IEC60669-1、IEC61058-1等标准的相应条款而设计，用于检测家用和类似用途开关器具产品的机械寿命试验。。
怎样进行LED芯片寿命试验 介绍了LED芯片寿命试验过程；提出了寿命试验条件，完善的试验方案，消除可能影响寿命试验结果准确性的因素，保证了寿命试验结果的客观性和准确性
芯片要怎么测试 芯片测试包含基本功能测试，芯片是什么用途，就测试功能是否实现电气性能测试，就是各种输入输出的边界范围，延迟，频率响应特性等安全测试，就是Hi-pot高电压冲击测试环境安全可靠性测试，温度湿度，冲击振动等老化寿命测试机械性能测试，就是引脚焊接性能测试具体测试方法不能一概而论，而是参照相应的产品标准和规范，采用合理的仪器和方法，由合格上岗的实验人员实施测试。测试实验室要取得国际认证。
当LED 芯片内结温升高10℃，光通量就会衰减1%，LED 的寿命就会减少50%？ 这说法对不？有理论或实验支持吗
