三态门电路实验报告
c语言模拟加法及进位控制实验 1.连接实验电路并检查无误。带进位运算实验接线图 2.打开电源开关。3.用输入开关向暂存器DR1和DR2置数，方法与3.4.4相同：a)用输入开关向暂存器DR1置数：拨动输入开关形成。
74LS125三态门正常工作时为什么门电路
计算机组成原理实验报告+++数据通路实验 最低0.27元开通文库会员，查看完整内容>；原发布者：减肥陈数据通路组成实验一、实验目的（1）将双端口通用寄存器组和双端口存储器模块联机；（2）进一步熟悉计算机的数据通路；（3）掌握数字逻辑电路中故障的一般规律，以及排除故障的一般原则和方法；（4）锻炼分析问题与解决问题的能力，在出现故障的情况下，独立分析故障现象，并排除故障。二、实验电路图9．14示出了数据通路实验电路图，e69da5e887aa3231313335323631343130323136353331333433623766它是将前面进行的双端口存储器实验模块和一个双端口通用寄存器组模块连接在一起形成的，存储器的指令端口不参与本次实验，通用寄存器组连接运算器模块，本实验涉及其中的操作数寄存器DR2。由于RAM是三态门输出，因而可以将RAM连接到数据总线BUS上。此外，BUS上还连接着双端口通用寄存器组。这样，写入RAM的数据可由通用寄存器提供，而从RAM读出的数据也可送到通用寄存器保存。RAM和DR2在前面的实验中使用过。对于通用寄存器组RF，它由一个在系统可编程（InSystemProgramable）芯片ispLSI 1016固化了通用寄存器组的功能而成，其功能与双端口寄存器组MC14580相类似，内含四个8位的通用寄存器，带有一个输入端口和两个输出端口。
组合逻辑电路实验报告总结 最低0.27元/天开通文库会员，可在文库查看完整内容>；原发布者：丹丹心依旧组合逻辑电路实验报告一实验内容1设计一个数码锁，有四个输入端，以及一个使能端。密码锁只有一个密码。使能端有效时当输入的数字和密码一样时候，密码锁开；当输入与密码不一样时候，密码锁报警。2利用3—8译码器产生任意一个逻辑函数：F=A’B’C’+AC+BC二实验条件门电路芯片：74LS138，74LS00，74LS08，74LS20；计算机电路基础实验箱，数字万用表，导线若干。三实验原理1关于数码锁数码锁数码锁的密码为1010.使能端为1时有效。开锁信号clkopen高电平有效。当使能端有效时，密码错误时，报警信e69da5e887aae799bee5baa6e79fa5e9819331333433623736号clka高电平有效。则开锁有效时的表达式为：Y=EAB’CD’=E((AB’CD’)’)’.报警信号为：Z=E(AB’CD’)’.电路图如下图所示：如图所示：左边自上到下分别为使能端（E），输入（ABCD），右边自上到下输出为报警信号（alrm），开锁信号（open）；open后面接个指示灯，alrm后面接个指示灯和蜂鸣器。按照图中所示连接电路，在取反时候没有反相器，使用与非门一脚悬空来获得取反，当与非门的一个输入悬空时，相当于高阻态，输出就只是取决于另外一个输入了。
K1K2为什么不能同时为0？ 这样的话那些逻辑函数都没有意义了，逻辑上强制1=0，那就要看谁的输出能力强了！这就不是逻辑问题了，而成了模拟电路问题了，实际输出是多少取决于你的门电路的材质和结构。
数字电路题目，并说明其理由， 第一个是…A因为一般的TTL输出是推挽级的，可以输出高电平和低电平两种状态.OC门是集电极开路门，可以输出高阻（三态）和低电平两种状态.OC门的输出必须上拉，才能保证高阻状态被检测出来.OC门最大的好处就是多个OC门输出可以连接在一起实现“线与”，即：当所有OC门均输出高阻时，系统才能检测到“高”（由上拉电阻提供）；只要有任意一个OC门输出低，系统即检测到“低”.普通TTL输出是做不到这点的，多个TTL输出连接在一起会造成总线电平冲突.第二个是C.这个通俗讲可以适用各种状态变化
数字电路逻辑门中的三态门 三态门，三态电路是一种重要的总线接口电路。这里的三态，是指它的输出既可以是一般二值逻辑电路的正常的“0”状态和“1”状态，又可以保持特有的高阻抗状态，第三种状态—高阻状态的门电路（高阻态相当于隔断状态）。处于高阻抗状态时，其输出相当于断开状态，没有任何逻辑控制功能。三态电路的输出逻辑状态的控制，是通过一个输入引脚 实现的。当G为低电平输入时，三态电路呈现正常的“0”或“1”的输出；当G为高电平输入时，三态电路给出高阻态输出。
计算机组成原理实验-运算器组成实验报告 最低0.27元开通文库会员，查看完整内容>；原发布者：91铁人说爱520计算机组成原理课程实验报告9.3运算器组成实验姓名：曾国江学号：系别：计算机工程学院班级：网络工程1班指导老师：完成时间：评语：得分：9.3运算器组成实验一、实验目的1．熟悉双端口通用寄存器堆的读写操作。2．熟悉简单运算器的数据传送通路。3．验证运算器74LS181的算术逻辑功能。4．按给定数据，完成指定的算术、逻辑运算。二、实验电路图3.1示出了本实验所用的运算器数据通路图。参与运算的数据首先通过实验台操作板上的八个二进制数据开关SW7-SW0来设置，然后输入到双端口通用寄存器堆RF中。RF(U30)由一个ispLSI1016实现，功能上相当于四个8位通用寄存器，用于保存636f70793231313335323631343130323136353331333433623765参与运算的数据，运算后的结果也要送到RF中保存。双端口寄存器堆模块的控制信号中，RS1、RS0用于选择从B端口（右端口）读出的通用寄存器，RD1、RD0用于选择从A端口（左端口）读出的通用寄存器。而WR1、WR0用于选择写入的通用寄存器。LDRi是写入控制信号，当LDRi＝1时，数据总线DBUS上的数据在T3写入由WR1、WR0指定的通用寄存器。RF的A、B端口分别与操作数暂存器DR1、DR2相连；另外。
最低0.27元开通文库会员，查看完整内容>；原发布者：清韵华如集成门电路功能测试实验报告一、实验预习1.逻辑值与电压值的关系。2.常用逻辑门电路逻辑功能及其测试方法。3.硬件电路基础实验箱的结构、基本功能和使用方法。二、实验目的测试集成门电路的功能三、实验器件集成电路板、万用表四、实验原理TTL与非门74LS00的逻辑符号及逻辑电路：双列直插式集成与非门电路CT74LS00：数字电路的测试：常对组合数字电路进行静态和动态测试，静态测试是在输入端加固定的电平信号，测试输出壮态，验证输入输出的逻辑关系。动态测试是在输入端加周期性信号，测试输入输出波形，测量电路的频率响应。常对时序电路进行单拍和连续工作测试，验证其状态的转换是正确。本实验验证集成门电路输入输出的逻辑关系，实验在由硬件电路基础实验箱和相关的测试仪器组成的物理平台上进行。硬件电路基础实验箱广泛地应用于以集成电路为主要器件的数字电路实验中，它的主要组成部分有：(1)直流电源：提供固定直流电源（+5V，-5V）和可调电源(+3～15V，-3～15V)。(2)信号源：单脉冲源（正负两种脉冲）；连续脉冲。(3)逻辑电平输出电路：通过改变逻辑电平开关状态输出两个电平信号：高电平“1”和低电平“0”。
