目前椭圆测量的主要难点是什么 椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率 椭偏法测量的基本思路是，起偏器产生的线根据仪器分析中的方程求解就可以的撒。
求用椭圆偏振法测量薄膜厚度及折射率的实验数据 椭圆偏振光法测定介质薄膜的厚度和折射率在现代科学技术中，薄膜有着广泛的应用。因此测量薄膜的技术也有了很大的发展，椭偏法就是70年代以来随着电子计算机的广泛应用而发展起来的目前已有的测量薄膜的最精确的方法之一。椭偏法测量具有如下特点：能测量很薄的膜（1nm），且精度很高，比干涉法高1-2个数量级。是一种无损测量，不必特别制备样品，也不损坏样品，比其它精密方法：如称重法、定量化学分析法简便。可同时测量膜的厚度、折射率以及吸收系数。因此可以作为分析工具使用。对一些表面结构、表面过程和表面反应相当敏感。是研究表面物理的一种方法椭偏仪的光路图椭偏仪的基本原理入射光的P分量入射光的S分量反射光的P分量和S分量的比值—椭圆参量r=RP/Rs=tanyexp(iD)=f(n1，n2，n3，f1，d，l）
椭偏测厚仪器的基本思想是什么？各主要光学不见的作用是什么？椭圆偏振法测量中的误差可能来源于什么因素
什么是分析化学？ 专门分析物质成分的学科.
椭圆偏振法测量薄膜厚度，折射率是定性实验还是定量实验 椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率 椭偏法测量的基本思路是，起偏器产生的线根据仪器分析中的方程求解就可以的撒。
减反射面的膜系有哪些 是要原理，还是要用途？按用途的话，减反射膜有下面这些种类：各种波段、各种基片的减反射（高增透）膜；宽与窄带通滤光膜；宽与窄带高反射膜；反热膜；冷光膜；偏振与消偏振分光膜；激光与抗激光损害眼睛保护膜；各种硬树脂（CR39等）与玻璃眼镜镀宽带减反（增透）及各种显色膜；抗紫外、抗红外、抗微波电焊保护膜；各种高低温基片导电透明（ITO）膜；光通讯器件膜（光导端面单波或多波超高增透膜）；抗摩擦损伤膜；准分子激光高反膜；DVD光学镀膜；用于DVD、投影仪等数码技术的耐湿、耐高温、耐摩、宽光谱带的金属介质组合膜（可见光谱区平均反射率大于98％，近红外光谱区反射率大于98.5％）及各种特殊要求的光学镀膜
椭圆偏正光法测薄膜厚度
纳米银的光学性质？
椭圆在光学上的应用主要有哪些？ 1、记得在偏振光中有一种是椭圆偏振光：光矢量大小和方向在传播过程中均规则变化，光矢量端点沿椭圆轨迹运动。起偏器产生的线偏振光经取向一定的1/4波片后成为特殊的椭圆偏振光。2、晶体光学性质的几何表示中有折射率椭球，其方程为X2/nx2+y2/ny2+z2/nz2=1折射率椭球具有以下性质1）从折射率椭球发出的任一矢径r=nd(d是晶体折射率在晶体空间各个光波D方向上的取值分布的单位矢量)，即矢径的方向表示光波D矢量的一个振动方向，其矢径长度表示D矢量在该方向振动的光波的折射率。2）过折射率椭球中心作垂直于某一给定的波法线方向k的一个平面，它与椭球的截面是一椭圆，则椭圆的长轴和短轴方向就是与k对应的允许存在的两个光波D的方向D'、D''，而长、短半轴的长度就等于这两个光波的折射率n'、n''3）利用折射率椭球得到D、E、k、S之间的关系。即E矢量是D矢量端点处椭球切平面的法线；由于D、E、K、S共面，又D垂直K，E垂直S，可以得到相应的K与S的方向，并且K垂直于S与椭球交点处的切平面我说楼主，你文的问题不但有点专业，还很不好回答，因为涉及几何图形和方向性7a64e59b9ee7ad9431333231633261，单用文字很难说清啊。我只是凭着自己的理解和记忆尽量给你解答，我。
