放射源分几类？ x射线能量散射荧光分析仪

x射线与物质相互作用可以产生哪些效应？ X射线与物质相互作用有：光电效应、康普顿效应、电子对效应a.光电效应光子将能量全部交给原子的一个轨道电子（内层电子），光子本身消失，电子摆脱束缚成为高能自由电子，此过程为光电效应。（1）不产生散射线，减少照片的灰雾。（2）增加人体不同组织和造影剂对X射线的吸收差别，利于提高诊断准确性。b.康普顿效应光子将部分能量交给原子中束缚较松弛的电子（外层电子），光子本身能量减少而成θ角度改变运动方向，称康普顿散射光子；电子获得能量后脱离原子而运动，该电子称康普顿电子或称反冲电子。（1）散射线引起图像灰雾效果。（2）需对散射线采取防护（使用滤线栅可以减小散射线影响）c.电子对效应光子有足够的能量避开与电子云的相互作用，接近到原子核，在核力场与光子的相互作用下使光子消失，而转化为一对正、负电子，这就是电子对效应。从事X射线工作应该注意什么 1).实验者及进2113入实验室的人员，必须5261配带X射线室专用的4102证件，证件定期调换，将其被照射的剂1653量，记入放射线同位素使用者的记录薄中。2).从X射线装置出口射出的X射线很强（通常为105伦琴/分钟），因此，要注意防止在那里直接被照射。并且，确定X射线射出口的方向时，要选择向着没有人居住或出入的区域。3).尽管对X射线装置充分加以屏蔽，但要完全防止X射线泄漏或散射是很困难的。必须经常检测工作地点X射线的剂量，发现泄漏时，要及时加以遮盖。4).需要调整X射线束的方向或试样的位置以及进行其它的特殊实验时，必须取得X射线装置负责人的许可，并遵照其指示进行操作。5).按照实验的要求，穿上防护衣及戴上防护眼镜等适当的防护用具。6).装置出现异常或发生事故时，要立刻停止发射X射线，并向装置的负责人报告并接受指示。7).自感受到X射线照射时，也与前项同样处理。8).实验前，要认真研究实验步骤，并作好充分的准备，注意尽量缩短发射X射线的时间。9).经常测定进入区域的X射线的照射剂量。要考虑在X射线工作场所的允许剂量（30毫伦琴/每周）以内，安排实验时间。10).使用X射线的人员，要定期进行健康检查。摘自网上放射源分几类？ 国际原子能机构根据放射源对人体可能的伤害程度，将放射源分为5类：Ⅰ类放射源属极危险源。没有防护情况下，接触这类源几分种到1小时就可致人死亡。Ⅱ类放射源属高危险源。。荧光化学传感器和荧光探针的区别 不一样 荧光，又作\"萤光\"，是指一种光致发光的冷发光现象。当某种常温物质经某种波长的入射光(通常是紫外线或X射线)照射，吸收光能后进入激发态，并且立即退激发并发出比。X射线荧光分析仪 X 射线荧光分析的工作原理 使用X射线直接照射试样，测定由此产生的2次X射线(X射线荧光)的能量强度.用此法可无须破坏样品进行样品定性分析和定量分析.与其他分析方法相比，。色散型与能量型x射线光谱仪各有什么优缺点 一、X一射线荧光分析仪(XRF)简介X一射线荧光分析仪(XRF)是一种较新型的可以对多元众进行快速同时侧定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X一荧光).波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理I.波长色徽型X射线荧光光诺仪(WD-XRF)是用晶体分光而后由探侧移接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控侧器作同步运动.不断地改变衍射角.便可获得祥品内各种无索所产生的特征X射线的波长及各个彼长X射线的强度.可以据此进行定性分析和定I分析.该种仪器产生于4年代，由于可以对复杂体系进行多组分同时侧定.受到砚注.特别在地质部门，先后配工了这种仪器.分析邃度显着提高，起了I要作用。随着科学技术的进步，在60年代初发明了半导体探洲器以后，对X一炙光进行能谱分析成为可能。能谱色散皿R射线荧光光谱仪(ED-XRF).用X射线管产生原级X射线服射到样品上，所产生的特征X射线(荧光)直接进入Si(Li)探侧器，便可以据此进行定性分析和定f分析.第一台ED-XRF是iIL1年问世的.近几年来.由于商品ED-XRF仪器及计算机软件的发展，功能完普，应用领城拓宽，其特点、优越性日益受到认识，发展迅猛.二、波长色散型X射线。请问XRF/能量散射型荧光分析仪到底是个什么东西，是做什么用的， 浅谈X射线荧光光谱分析在古陶瓷中的应用 最低0.27元开通文库会员，查看完整内容>；原发布者：龙源期刊网摘要：本文简单叙述了2113X射线荧光光谱分析及能5261量散射X射线荧4102光光谱仪（EDXRF）在古陶瓷研究1653中的应用。关键词：X射线荧光光谱能量散射X射线荧光光谱仪古陶瓷测试技术科技处于不断进步和发展的阶段，考古不再仅仅停留在传统考古学的层面上，科学技术也越来越多地运用到对文物的研究中。无机材料测试技术是近些年用于古陶瓷研究的主要方法之一，能弥补传统考古学在研究物质的组成和结构、制瓷工艺等方面的不足，为探讨古代陶瓷科技发展水平以及古代社会经济、文化发展水平提供必要的方法和手段。无机材料测试技术包括电子探针X射线显微分析、X射线光电子能谱分析、X射线衍射分析（XRD）、电感耦合等离子体发射光谱（ICP-AES）等等。按色散的不同，X射线荧光光谱分析可分为波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）和能量色散X射线荧光光谱仪（EDXRF），由于能量色散X射线荧光光谱仪在古陶瓷研究中应用频率较高，故本文对波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）不多做介绍。一、X射线荧光光谱分析的应用1.文物的鉴定文物鉴定包括两个方面：对文物材质和真伪的鉴定。鉴别文物的材质，有时能依靠肉眼分辨器物是瓷器。X射线荧光分析的误差来源 10.3.3.1 基体效应(1)颗粒效应颗粒效应是由于粒度、粒度分布、颗粒形状及颗粒内部不均匀性引起的物理效应。在特定条件下，样品表面会产生电荷，由于电荷之间的同性相斥、异性相吸，会形成一种颗粒被另一种颗粒优先环绕的情况，容易造成较严重的颗粒效应。这种颗粒效应对样品中的Si、Ca元素的测定影响较大。颗粒效应的有效解决方法是充分粉磨样品和采用熔融法制样。(2)矿物效应化学成分相同的物质，由于结晶条件的差异而造成晶体结构不同(如石墨和金刚石)，不同晶体结构的同种元素能产生不同强度的荧光X射线，从而造成误差。矿物效应的解决方法是充分粉磨样品和采用熔融法制样。当矿物被粉磨至10～15μm的极微小颗粒时，矿物效应不再明显。(3)元素间效应元素间效应是指其他元素对待测元素的荧光 X 射线强度的影响，又叫吸收—增强效应。产生原因主要是由于基体吸收初级X射线束，影响了初级X射线对待测元素的激发(吸收效应)；基体吸收待测元素的荧光X射线束(吸收效应)；基体元素放射出的荧光X射线束于待测元素吸收限的短波一侧，被待测元素吸收，激发出待测元素的特征谱线(增强效应)。使用熔融法时，试样片的基体效应大致相同，趋于一致。10.3.3.2 制样过程中的。

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