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如何用数字万用表测试可控硅 可控硅模块损坏万能表测试
双向可控硅怎样检测好坏 用指针万用表ΩX1档,红笔接T1,黑笔同时接T2和G,指针应偏转较大。然后,在保持黑笔与T2连接的情况下,让黑笔脱开G,指针应保持不变,说明能维持导通,为正常。单向。MTC400A 1600V双向可控硅如何测量好坏...
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驱动电路损坏是什么原因? 电路能损坏吗
集成电路有千万个晶体管,如果损坏了几个还能正常运行吗? 出处:http:WWW.IT206.COM 1958年,国际上第一块集成电路上只包含了十几个晶体管;1967年呈现了大规划集成电路,集成度敏捷进步;1977年超大规划集成电路问世,一个...