数字电路应用设计的目录 第1章 数字电路实用设计基础1.1 数字集成电路的分类、特点及注意事项1.2 数字逻辑电路的测试方法1.3 基本逻辑门电路的测试方法1.4 典型集成逻辑门电路部件逻辑门（Logic Gates)是在集成电路(Integrated Circuit)上的基本组件。简单的逻辑门可由晶体管组成。这些晶体管的组合可以使代表两种信号的高低电平在通过它们之后产生高电平或者低电平的信号。高、低电平可以分别代表逻辑上的“真”与“假”或二进制当中的1和0，从而实现逻辑运算。常见的逻辑门包括“与”门，“或”门，“非”门，“异或”门(Exclusive OR gate)（也称：互斥或）等等。逻辑门可以组合使用实现更为复杂的逻辑运算。1.5 组合逻辑电路的分析与设计逻辑运算又称布尔运算 布尔用数学方法研究逻辑问题，成功地建立了逻辑演算。他用等式表示判断，把推理看作等式的变换。这种变换的有效性不依赖人们对符号的解释，只依赖于符号的组合规律。这一逻辑理论人们常称它为布尔代数。20世纪30年代，逻辑代数在电路系统上获得应用，随后，由于电子技术与计算机的发展，出现各种复杂的大系统，它们的变换规律也遵守布尔所揭示的规律。逻辑运算(logical operators)通常用来测试真假值。最常见到的逻辑运算。
数字逻辑电路课，数字电子技术基础第三章，集成逻辑门电路的第3.5的a，c电压波形图.及3.6的TT 上面的b)，不用的管脚应该接0、而不是1。c)、d)不用的管脚应该接1、不能悬空或接0。e)、f)中下面的管脚要接1、而不是0。
数字逻辑电路实验的图书目录 第1章 数字电路实验基础1.1 概述1.2 实验的基本过程1.2.1 实验预习1.2.2 实验中的EDA仿真1.2.3 实验中的操作规范1.2.4 布线原则1.2.5 数字电路测试1.2.6 数字电路的故障查找和排除1.2.7 实验记录和实验报告1.3 数字集成电路简介1.3.1 概述1.3.2 TTL器件的特点和工作条件1.3.3 TTL器件使用须知1.3.4 CMOS数字集成电路的特点1.3.5 CMOS器件使用须知1.3.6 数字IC器件的封装1.3.7 数字电路逻辑状态1.4 数字实验箱简介第2章 集成逻辑门电路2.1 集成逻辑门电路实验目的与要求2.2 集成逻辑门电路基础知识2.2.1 集成逻辑门电路的类型及特点2.2.2 典型门电路芯片2.2.3 TTL门电路的主要参数2.2.4 集成门电路的使用规则2.3 门电路的EDA仿真2.4 集成逻辑门功能测试2.5 门电路故障的分析及诊断2.6 实验报告及思考题第3章 组合逻辑电路3.1 全加器3.1.1 全加器实验目的与要求3.1.2 全加器基础知识3.1.3 全加器的EDA仿真3.1.4 全加器电路3.1.5 基于VHDL实现l位全加器3.1.6 组合逻辑电路故障检测3.1.7 实验报告及思考题3.2 译码器3.2.1 译码器实验目的与要求3.2.2 译码器基础知识3.2.3 译码器的EDA仿真3.2.4 译码器电路3.2.5 基于VHDL。
