椭圆偏振技术的基本原理 此技术是用来测量“光在反射或穿透样品时，其偏振性质的改变”这样一个数据实验。通常，椭圆偏振多在反射模式下进行。偏振性质的改变主要是由样品的性质，如厚度、复折射率或介电性质（参见英文版Dielectric function），来决定。虽然光学技术受制于先天绕射极限的限制，椭圆偏振却可借由相位资讯及光偏振之状态的改变，来取得埃等级的解析度。在最简单的形式下，此技术可适用于厚度小于一奈米到数微米之间的薄膜。样品必须是由少数几个不连续而有明确介面、光学均匀且具等向性且非吸收光的膜层构成。根据上述的假设，则会不符合标准椭圆偏振处理的程序，因此需要对此技术改进以符合其应用.
大物实验光的偏振中检测椭圆偏振光数据处理问题 波片是什么哪种波片？椭圆偏振光经过偏振器，转动偏振器，光强就会发生变化，椭圆的长短轴，分别对应最强的和最弱的光强时，偏振器的透光轴的方向.
如何用实验的方法区别自然光，线偏振光，圆偏振光，椭圆偏振光以及部分偏振光。 用实验的方法区别自然光，线偏振光，圆偏振光，椭圆偏振光以及部分偏振光方法： 一、器材：偏振片，1/4玻片。二、具体步骤： 1.用偏振片进行观察，若光强随偏振片的转动。
