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氧化层的厚度是怎样影响等效电容的 栅氧化层电容计算

2021-04-27知识0

简述自对准硅化物工艺流程 补充资料:自对准技术微电子技术中利用元件、器件结构特点实现光复印自动对准的技术。早期的 MOS集成电路采用的是铝栅工艺,首先在硅单晶片上热氧化生长一层二氧化硅膜,经第一次光刻,在二氧化硅膜上刻蚀出源和漏扩散窗口,用扩散法形成源和漏扩散区(图1a),接着在硅片上形成新的二氧化硅层;再经过第二次光刻,刻蚀出栅区,生长栅氧化层;然后,经光刻刻出引线孔,完成蒸铝和刻铝等后工序;最后形成MOS晶体管。因为栅区必须在源和漏扩散区正中间,并需要稍覆盖源区和漏区,第二次光刻以及形成铝栅电极的那步光刻,都必须和第一次光刻的位置精确对准(图1b)。否则,栅区与源区或漏区就可能衔接不上,使沟道断开(图1c),致使MOS晶体管无法工作。因此,设计这类晶体管时往往让栅区宽度(栅氧化膜及其上的铝栅电极两者)比源和漏扩散区的间距要大一些,光刻时使栅区的两端分别落在源和漏扩散区上并有一定余量,由此便产生了较大的栅对源、漏的覆盖电容,使电路的开关速度降低。随硅栅工艺的发展,已实现栅与源和漏的自对准。这种工艺是先在生长有栅氧化膜的硅单晶片上淀积一层多晶硅,然后在多晶硅上刻蚀出两个扩散窗口,杂质经窗口热扩散到硅单晶片内,形成源和漏扩散区(图2),。

MOSFETS饱和时候的漏极电流公式?I=(1/2)UnCox(W/L)(Vgs-Vth)^2 其中Un为电子的迁移速率,Cox为单位面积栅氧化层电容,W/L是宽长比,Vgs-Vth为过驱动电压。。

求几种集成电路工艺中高精度电阻和电容的制作方法?? 2高精度电阻的制作2.1掺杂法集成电路中用掺杂法制作电阻,一般采用扩散电阻法和离子注入法。2.1.1扩散电阻法扩散电阻法工艺简单,但精度较低,寄生效应大,面积较大。。

#栅氧化层电容计算

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