有没有电子产品老化实验的标准 最低0.27元开通文库会员，查看完整内容>；原发布者：duankaizh电子元器件的老化测试为了达到满意的合格率，几乎所有产品在出厂前都要先藉由老化。制造商如何才能够在不缩减老化时间的条件下提高其效率？本文介绍在老化过程中进行功能测试的新方案，以降低和缩短老化过程所带来的成本和时间问题。在半导体业界，器件的老化问题一直存在各种争论。像其它产品一样，半导体随时可能因为各种原因而出现故障，老化就是藉由让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免在使用早期发生故障。如果不藉由老化，很多半导体成品由于器件和制造制程复杂性等原因在使用中会产生很多问题。在开始使用后的几小时到几天之内出现的缺陷(取决于制造制程的成熟程度和器件总体结构)称为早期故障，老化之后的器件基本上要求100%消除由这段时间造成的故障。准确确定老化时间的唯一方法是参照以前收集到的老化故障及故障分析统计数据，而大多数生产厂商则希望减少或者取消老化。老化制程必须要确保工厂的产品满足用户对可靠性的要求，除此之外，它还必须能提供工程数据以便用来改进器件的性能。一般来讲，老化制程藉由工作环境和电气性能两方面对半导体器件进行苛刻的试验使故障尽早出现，典型的。
可靠性工程师具体工作内容是什么？可靠性分析 ，管理， 做寿命试验？常用什么工具软件啥的 第一次提问；诶呀 都是因为导师的一个项目 毕业课题做的跟可靠性沾边 找工作呢 HR说招我过去做点可靠性…
电子产品一般要做哪些测试 1、低温试验按GB/T2423.1—89《电工2113电子产5261品环境试验第二部分4102：试验方法低温试1653验》；GB/T2423.22—87《电工电子产品环境试验第二部分：试验方法温度变化试验方法》进行低温试验及温度变化试验。温度范围：-70℃～10℃。2、高温试验按GB/T2423.2—89《电工电子产品环境试验第二部分：试验方法高温试验》；GB/T2423.22—87《电工电子产品环境试验第二部分：试验方法温度变化试验方法》进行高温试验及温度变化试验。温度范围：10℃～210℃。3、湿热试验按GB/T2423.3—93《电工电子产品环境试验第二部分：试验方法恒定湿热试验》；GB/T2423.4—93《电工电子产品环境试验第二部分：试验方法交变湿热试验》进行恒定湿热试验及交变湿热试验。湿度范围：30%RH～100%RH。4、霉菌试验按GB/T2423.16—90《电工电子产品环境试验第二部分：试验方法长霉试验》进行霉菌试验。5、盐雾试验按GB/T2423.17—93《电工电子产品环境试验第二部分：试验方法盐雾试验》进行盐雾试验。6、低气压试验按GB/T2423.21—92《电工电子产品环境试验第二部分：试验方法低气压试验》；GB/T2423.25—92《电工电子产品环境试验第二部分：试验方法低温/低气压试验》；GB/T2423。.
