电子产品常见可靠性试验有哪些？ 在产品研制过程中，常用的可靠性设计原则和方法有：元器件选择和控制、热设计、简化设计、降额设计、冗余和容错设计、环境防护设计、健壮设计和人为因素设计等。除了元器件。
LED照明灯具的可靠性，有关LED照明灯具的分类、性能指标及可靠性等，美国#39能源之星#39中已有很具体的规定[1]，可靠性指标中，主要规定LED照明灯具寿命3.5万小时，在全寿命。
芯片可靠性测试可以找哪些机构做？ 芯片可靠性测试主要分为环境试验和寿命试验两个大项，其中环境试验中包含了机械试验（振动试验、冲击试验、离心加速试验、引出线抗拉强度试验和引出线弯曲试验）、引出线易焊性试验、温度试验（低温、高温和温度交变试验）、湿热试验（恒定湿度和交变湿热）、特殊试验（盐雾试验、霉菌试验、低气压试验、静电耐受力试验、超高真空试验和核辐射试验）；而寿命试验包含了长期寿命试验（长期储存寿命和长期工作寿命）和加速寿命试验（恒定应力加速寿命、步进应力加速寿命和序进应力加速寿命），其中可以有选择的做其中一些。我在北京，据我所知国家电网的芯片测试中心可以做相关的测试。
