芯片功能的常用测试手段或方法几种？ 1、软件的实现根据“成电之芯”输入激励和输出响应的数据对比要求，编写了可综合的verilog代码。代码的设计完全按照“成电之芯”的时序要求实现。根据基于可编程器件建立测试平台的设计思想，功能测试平台的构建方法如下：采用可编程逻辑器件进行输入激励的产生和输出响应的处理；采用ROM来实现DSP核程序、控制寄存器参数、脉压系数和滤波系数的存储；采用SRAM作为片外缓存。2、硬件的实现根据功能测试平台的实现框图进行了原理图和PCB的设计，最后设计完成了一个可对“成电之芯”进行功能测试的系统平台。扩展资料：可编程逻辑器件分类：1、固定逻辑器件中的电路是永久性的，它们完成一种或一组功能-一旦制造完成，就无法改变。2、可编程逻辑器件（PLD）是能够为客户提供范围广泛的多种逻辑能力、特性、速度和电压特性的标准成品部件-而且此类器件可在任何时间改变，从而完成许多种不同的功能。参考资料来源：-可编程逻辑器件
时序逻辑电路测试及研究 实验报告(有数据) 最低0.27元开通文库会员，查看完整内容>；原发布者：BB我的宝实验六时序逻辑电路测试及研究一、实验目的1、掌握计数器电路分析及测试方法。2、训练独立进行实验的技能。二、实验仪器及器件1、双踪示波器、实验箱2、实验用元器：74LS001片74lS732片74LS1751片74LS101片三、实验内容、测试电路及测试表格1、异步二进制计数器(1)按图5.1接线。(2)由CP端输入单脉冲，测试并记录Q1—Q4状态及波形(可调连续脉冲)。表6.12、异步二—十进e79fa5e98193e58685e5aeb931333433623765制加法计数器(1)按图5.2接线。QA、QB、QC、QD4个输出端分别接发光二极管显示，CP端接连续脉冲或单脉冲。(2)在CP端接连续脉冲，观察CP、QA、QB、QC、QD的波形。(3)画出CP、QA、QB、QC、QD的波形。表6.23、移位寄存器型计数器(1)按图5.3接线构成环形计数器，将A、B、C、D置为1000，用单脉冲计数，记录各触发器状态。表6.3(2)改为连续脉冲计数，并将其中一个状态为“0”的触发器置为“1”（模拟干扰信号作用的结果），观察计数器能否正常工作。分析原因。分析：输出端没有任何波形，故计数器没有正常工作。这是因为在这个计数器循环中，当有且只有一位被置“1”时，才可以进入有效循环。而出现两个“1”时，不在。
哪些属于组合逻辑电路？哪些属于时序逻辑电路 数字电路根据逻辑2113功能的不同特点，可以5261分成两大类，一类叫组合逻辑4102电路1653(简称组合电路)，另一类叫做时序逻辑电路(简称时序电路)。时序逻辑电路包含记忆单元，输出不仅与输入有关，而且与之前的状态有关。组合逻辑电路不包含记忆单元，输出与输入有关，与之前的状态无关。两者的区别在于逻辑电路是否包含记忆元件-触发器：组合逻辑电路不包含触发器；时序逻辑电路包含触发器。不包含记忆元件的组合逻辑电路的输出仅仅与当前的输入有关。而包含了记忆元件的时序逻辑电路的输出还与之前的输入有关，或者说与当前输入及初始状态有关。译码器、加法器属于组合逻辑电路。寄存器、计数器属于时序逻辑电路。组合电路时序电路
