X射线谱的基本原理 X射线谱可分为发射区射线谱和吸收区射线谱，波长范围为700～0.1┱。发射谱有两组：连续谱和叠加其中的标识（特征）谱。连续X射线谱 高速带电质点(如电子、质子、介子等)与物质相碰，受物质原子核库仑场的作用而速度骤减，质点的动能转化为光辐射能的形式放出。带电质点的速度从υ1降到υ2，相应地发生波长为 λ0的辐射，这是h是普朗克常数，с为光速，m是带电质点的质量。因此连续谱存在一短波限，其最短波长λ0相应于υ2=0时的波长。例如，在普通X射线管中，管电压为V(伏)时，其中e为电子电荷。1a是钨阳极X射线管在不同管压下的连续X射线谱，1b是相同管电压(10kV)下不同阳极材料的连续X射线谱。连续谱的λ0与阳极的原子序数Z无关，它仅与质点的动能有关，Z只影响连续谱的积分强度，X射线的输出功率为kiZV2(i为管电流），其效率为kZV，k=1.1～1.4×10-9。强度最大值的波长。X射线管所发射的连续谱强度在空间各个方向的分布是不相等的。连续 X射线谱中某一波长的强度与管电压存在着严格的线性关系，根据这一关系外推，可得相应于该波长的管电压，利用这个方法可求得相当精确的两个基本物理常数h和e的比值。标识（特征）X射线谱，当冲击物质的带电质点或光子的能量足够大时，。
材料分析检测技术的图书目录 第1章 材料分析检测技术概述1.1 引言1.2 衍射分析方法概述1.2.1 X射线衍射分析1.2.2 电子衍射分析1.3 电子显微分析方法概述1.3.1 电子显微分析的物理学基础—德布罗意波1.3.2 电子显微分析1.4 电子能谱分析方法概述1.5 光谱分析方法概述1.5.1 光谱分析过程与仪器简述1.5.2 光谱分析方法的大致应用1.6 计算机在分析测试技术中的应用概述1.6.1 计算机在X射线结构分析中的应用1.6.2 计算机在透射电子显微分析中的应用第2章 X射线衍射分析2.1 X射线物理学基础2.1.1 X射线的产生2.1.2 连续X射线谱2.1.3 特征X射线谱2.2 X射线衍射几何2.2.1 布拉格方程2.2.2 倒易点阵及衍射矢量方程2.3 X射线衍射强度2.3.1 一个电子的散射强度2.3.2 原子散射强度2.3.3 晶胞衍射强度2.3.4 小晶体散射的积分强度2.3.5 多晶体衍射积分强度2.3.6 影响衍射强度的其他因素2.4 X射线衍射方法2.4.1 多晶体衍射方法2.4.2 单晶体衍射方法2.5 X射线衍射分析2.5.1 物相分析2.5.2 点阵常数的精确测定2.5.3 宏观内应力测定2.5.4 晶体取向的测定2.5.5 聚合物材料X射线分析2.5.6 非晶材料的X射线散射分析2.5.7 薄膜材料的X射线散射分析2.5.8 计算机在X射线结构。
请简述扩展X射线吸收谱精细结构(EXAFS)分析方法可以用来检测什么信息？其测试原理是什么？特点是什么？ 利口福饿了的特特特特let头欧诺特特QAQ嘟嘟嘟饿了了MP5破reset都铎tap
