可靠性何谓处理可靠性试验数据中寿命分布函数的假设检验？ 参考答案：可靠性 在处理可靠性试验数据时，往往先假设寿命分布函数的类型，然后用点估计或区间估计方法求得有关参数（1 分）。这种假设是否符合实际，有时需要进行检验（1。
可靠性试验标准(参考JEDEC) 去文库，查看完整内容>；内容来自用户：昱昱sunsun试验e69da5e887aa3231313335323631343130323136353331333433646430项目试验参数循环湿热偏压寿命试验试验时间1008(-24，+168)小时，相对湿度90%to98%。本试验适用于非密封空封器件。温度：85±2℃（干箱）；81℃（湿箱）相对湿度：85±5%气压：7.12/49.1（psia/kPa）试验时间：1000（-24，+168）小时本试验适用于非密封器件。加偏压要求最小功耗。温度（干箱）温度（湿箱）相对湿度（%）气压（psia/kPa）试验时间h130±2124.785±533.3/23096(-0，+2)高速湿热寿命应力试验稳定湿热偏压寿命试验高压水煮试验110±2105.285±57.7/122264(-0，+2)本试验适用于非密封器件。加偏压要求最小功耗。本试验和温态湿热偏压寿命试验激发的失效机理相同。可根据实际情况选择不加偏压。温度（℃）相对湿度（%）气压（psia/kPa）试验时间（h）A24(-0，+2)B48(-0，+2)C96(-0，+5)100%29.7/205D168(-0，+5)121±2E240(-0，+8)F336(-0，+8)本试验适用于非密封器件。典型试验时间96h。高温工作寿命试验温度：125℃试验时间：1000h加最大偏压。温度：-10℃试验时间：240h加最大偏压。本试验适用于设计尺寸的CMOS器件。温度：A：+125(-0/10)℃B：+。
可靠性寿命试验中的“老化”和“老练”是指的同一个概念吗？可靠性之电子元器件寿命试验中的“老化”和“老练”是指的同一个概念吗？老化和老练应该不同
