原子力显微镜（Atomic Force Microscope，缩写为AFM）是1986年问世的一种以隧道效应为理论基础的显微镜，是扫描探针显微镜家族中的重要成员。扫描探针显微镜（Scanning Probe Microscope，缩写为SPM）包括扫描隧道显微镜、原子力显微镜、摩擦力显微镜、静电力显微镜、磁力显微镜等等。它们都是运用一个探针相对于样品表面进行扫描，监测两者之间的电、光、力、磁场等随针尖与样品表面间隙的变化来获取样品表面的有关信息。原子力显微镜由探针扫描系统、力检测与反馈系统、数据处理与显示系统以及振动隔离系统四部分组成。扫描系统的针尖装在微悬臂上，并使它与待测样品的表面有一定的力接触。由压电陶瓷或压电晶片三维扫描控制器驱动针尖或样品进行相对扫描。微悬臂对微弱力（如范德华力）极为敏感，并具有极高的可控空间定位精度，可达0.1nm。当微悬臂的针尖接触样品时，针尖尖端的原子与样品表面的原子会产生极微弱的排斥力，使微悬臂产生微小的形变。该形变可以作为针尖与样品之间作用力的直接度量。近年来，原子力显微镜采用激光反射法来检测微悬臂的弯曲变形。一束激光经微悬臂背部反射到一个光电检测器（图5-5），检测器不同象限所接收的激光强度的差值与微。
扫描隧道显微镜的分辨率为什么比原子力显微镜大？ 都是扫描探针显微镜，一个利用的是隧道电流，一个利用的是分子间作用力，但是为什么原子力显微镜的分辨率…
目前原子力显微镜的针尖制备方法有哪些 原子力显微镜碳纳米管针尖自从1996年被研制出以来，相继产生多种制备方法，有导电胶粘结法、扫描电镜制备法、电弧放电法，化学气相沉积法、扫描制备法和化学组装法等。
