门电路的功能测试 门电路逻辑功能及测试一．实验目的1．熟悉门电路逻辑功能2．熟悉数字电路学习机及示波器使用方法二．实验仪器及材料a)双踪示波器b)器件74LS00 二输入端四与非门 2 片74LS20 四输入端双与非门 1 片74LS86 二输入端四异或门 1 片74LS04 六反相器 1 片三．预习要求1．复习门电路工作原理及相应逻辑表达式2．熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途3．了解双踪示波器使用方法四．实验内容实验前安学习机使用说明先检查学习机电源是否正常.然后选择实验用的集成电路，按自己设计的实验接线图接好连线，特别注意Vcc及地线不能接错.线接好后经实验指导教师检查无误方可通电实验.1.测试与非门电路逻辑功能（1）．选用双四输入与非门74LS20一只，插入面包板，输入端接S1~S4(电平开关输入插口)，输出端接电平显示发光二极管（D1~D8任意一个），实验电路自拟.（2）．将电平开关按表1.1置位，分别测出电压及逻辑状态.表1.1输入\\x05输出1\\x052\\x053\\x054\\x05Y\\x05电压（V）H\\x05H\\x05H\\x05H\\x05 \\x05L\\x05H\\x05H\\x05H\\x05 \\x05L\\x05L\\x05H\\x05H\\x05 \\x05L\\x05L\\x05L\\x05H\\x05 \\x05L\\x05L\\x05L\\x05L\\x05 \\x052．异或门逻辑功能测试（1）．选二输入四异或门电路74LS86。
用Multisim软件仿真门电路逻辑功能及参数测试，教你如何用Multiim软件仿真门电路逻辑功能及参数测试实验。
数字集成电路测试中的直流参数测试项目包括哪些 包括 1.开路/短路测试(输入箝（同钳，qian)位电压VIK的测试）开短路测试（又称OPEN/SHORT 测试，O/S测试，continuity test 或contact test），主要是用于测试电子器件的连接情况，顾名思义，开短路测试就是测试开路与短路，具体点说就是测试一个电子器件应该连接的地方是否连接，如果没有连接上就是开路，如果不应该连接的地方连接了就是短路。通常都会被放测试程序的最前面。2.输出高低电平（VOH/VOL)测试VOH/VOL测试的目的是检查器件在指定电压下输出电流的能力。输入端在施加规定的电平信号下，使输出端位逻辑高/低电平时的电压。VCC通常位规定范围的最小值，测试使用IFVM（加恒流测电压）方式，对于VOH测试，在输出端抽取规定范围的IOH，其余输出端开路，同时测量该输出端的电压VOH。同理对于测量VOL时候，抽取IOL，测量到的电压就为VOL。这两个参数的测试主要时检查器件的抗干扰能力。3.输入高/低(IIH/IIL)电流测试输入端在输入规定的电压值VIH/VIL时候，测量到流入输入端的电流值IIH/IIL。目的是检查DUT的输入负载特性。这个参数主要时验证器件接受逻辑值1和0的能力。4.输入漏电流II测试所谓泄漏电流是指在没有故障施加电压的情况下，电气中带相互绝缘的。
