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X射线谱的基本原理 台式X射线吸收精细结构谱

2021-04-06知识8

X射线谱的基本原理 X射线谱可分为发射区射线谱和吸收区射线谱,波长范围为700~0.1┱。发射谱有两组:连续谱和叠加其中的标识(特征)谱。连续X射线谱 高速带电质点(如电子、质子、介子等)与物质相碰,受物质原子核库仑场的作用而速度骤减,质点的动能转化为光辐射能的形式放出。带电质点的速度从υ1降到υ2,相应地发生波长为 λ0的辐射,这是h是普朗克常数,с为光速,m是带电质点的质量。因此连续谱存在一短波限,其最短波长λ0相应于υ2=0时的波长。例如,在普通X射线管中,管电压为V(伏)时,其中e为电子电荷。1a是钨阳极X射线管在不同管压下的连续X射线谱,1b是相同管电压(10kV)下不同阳极材料的连续X射线谱。连续谱的λ0与阳极的原子序数Z无关,它仅与质点的动能有关,Z只影响连续谱的积分强度,X射线的输出功率为kiZV2(i为管电流),其效率为kZV,k=1.1~1.4×10-9。强度最大值的波长。X射线管所发射的连续谱强度在空间各个方向的分布是不相等的。连续 X射线谱中某一波长的强度与管电压存在着严格的线性关系,根据这一关系外推,可得相应于该波长的管电压,利用这个方法可求得相当精确的两个基本物理常数h和e的比值。标识(特征)X射线谱,当冲击物质的带电质点或光子的能量足够大时,。

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