晶粒度和晶粒尺寸的测量 截线法测晶粒度

【求助】如何计算晶粒度 最好说一下你的样品是什么样子的，等轴的，非等轴的都不一样，详细点说就是整个标准读一下cqw007(站内联系TA)我是做硬质合金的，怎么测量？xuzhifengneu(站内联系TA)扫描截距法测量WC的晶粒度32313133353236313431303231363533e59b9ee7ad9431333332636437啊风雨过后(站内联系TA)你也可以直接做一下XRD，用德拜谢乐公式应该可以计算出来，就不用量了：D：Dsunggcc(站内联系TA)先做XRD分析，然后根据德拜谢乐公式算。有的不用自己算，可以直接得到数据。jic8417(站内联系TA)照个X射线，用XRD分析软件一弄就出来了。nofail(站内联系TA)用XRD是个好办法，不过要记得谢乐公式的使用范围，lz的晶粒度范围可能不在此公式内cqw007(站内联系TA)Originally posted by xuzhifengneu at 2010-09-14 16：54：51：扫描截距法测量WC的晶粒度啊 能说具体些吗？sourbing(站内联系TA)XRD分析的晶粒度准确么？至少我不认同，不如金相直观，而且对于一个样品，平均晶粒度是指整个视场下的平均衡量，除非你能保证晶粒度均匀，否则xrd局限性很大，况且算出来的不如直观的。在金相显微镜下观察晶粒形貌，如果是等轴的，按平均晶粒度标准上的比较法，和标准图谱进行比较，类似几级就是几级，比较。哪位大侠有GB/T6394-2002金属平均晶粒度测定方法？要电子版的谢谢了 这个在这里有，我刚刚下了！完整版本！希望对你有帮助。标准编号：GB/T 6394-2002标准名称：金属平均晶粒度测定法标准状态：现行英文标题：Metal-methods for estimating the average grain size替代情况：YB/T 5148-1993(原标准号GB/T 6394-1986)实施日期：2003-6-1颁布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局内容简介：本标准规定了金属组织的平均晶粒度表示及评定方法。这些方法也适用于晶粒开关与本标准系列评级图相似的非金属材料。这些方法主要适用于单相晶粒组织，但经具体规定后也适用于多相或多组的试样中特定类型的晶粒平均尺寸的测量。本标准使用晶粒面积、晶粒直径、截线长度的单峰颁布来测定试样的平均晶粒度。这些分布近似正态分布。本标准的测定方法不适用于双峰分布的晶粒度。本标准的测量方法仅适用平面晶粒度的测量。也就是试样截面显示出的二维晶粒，不适用于试样三维晶粒，即立体晶粒尺寸的测量。本标准仅作为推荐性试验方法，它不能确定受检材料是否接收或适合使用的范围。出处：http：//www.csres.com/detail/68444.htmlhttp：//www.csres.com/upload/qy/in/GB-T6394-20021.pdf金属平均晶粒级数测定方法 金属平均晶粒度的测定方法（YB/T 5148-1993）一、试样的制备测定晶粒度的试样应在原材料（交货状态）截取，数量及取样部位按标准技术条件规定尺寸：圆形：Φ10～12㎜方形：10×10㎜注意：试样不允许重复热处理。渗碳处理的钢材试样应去除脱碳层和氧化皮。二、晶粒度显示方法（铁素体钢奥氏体晶粒度的显示）1.渗碳法渗碳钢采用此法，试样在930±10℃，保温6h，渗层1㎜以上。制样，浸蚀，以网状Fe3CⅡ显示A晶粒度。2.网状铁素体法适用于含碳量0.25～0.60%的碳钢和0.25～0.50%的合金钢，进行正火处理后，以F网显示A。3.氧化法适用于含碳量0.35～0.60%的碳钢和合金钢，抛光后磨面向上，在860±10℃加热1h，淬水，精用15%盐酸酒精浸蚀，以晶界氧化为准。4.直接淬火法碳含量小于或等于0.35%的试样，900±10℃加热1h；碳含量大于0.35%的试样，860±10℃加热1h，水冷550℃回火1h，磨制后用苦味酸水溶液加少量环氧乙烷聚合物显示A晶粒度。5.网状渗碳体法过共析钢在820±10℃加热保温0.5h缓冷，以Fe3CⅡ显示A晶粒度。6.网状T法适用于其他方法不易显示的共析钢；选取适当尺寸的棒状式样进行不完全淬火。7.A钢晶粒度显示（指不锈钢、耐热钢）①20ml盐酸+20ml水+5g硫酸铜或。常见金相组织，如铁素体，奥氏体等，晶粒度在几倍放大镜下评级？标准号是什么？ 晶粒度的基准评定倍率一般2113是100倍，这样可以直5261接对照图谱来看。4102但是不同大小的晶粒度是有不同倍率要求的1653，如果你的晶粒度超过9级，建议采用200倍评级，超过13级，建议采用500倍评级。如果低于3级建议采用50倍，或者25倍评级。一个主要目的就是，你所拍摄的视场内有足够的晶粒，让你尽兴评级，而且晶粒大小能够区分。如果你拍个照片，里面就3个晶粒，你说怎么评级；或者照片上的晶粒很小，都像一个个点，也是无法评级的。不同级别之间可以换算，标准上有换算公式。晶粒度的国家标注是GB/T6394-2002晶粒度和晶粒尺寸的测量 建议你认真看一下GB/T6394-2002，里面讲的十分详细。无损检测中的UT RT MT PT ET 都是什么意思？学习的时候这些有什么不同吗？ 1、UT：Ultrasonic test 超声2113波探伤超声波探伤是利用超5261声能透入金属材料的深处，4102并由一截面进入另一截面时1653，在界面边缘发生反射的特点来检查零件缺陷的一种方法，当超声波束自零件表面由探头通至金属内部，遇到缺陷与零件底面时就分别发生反射波，在荧光屏上形成脉冲波形，根据这些脉冲波形来判断缺陷位置和大小。2、MT：Magnetic test 磁粉探伤磁粉探伤法是利用工件缺陷处的漏磁场与磁粉的相互作用的方法，它利用了钢铁制品表面和近表面缺陷（如裂纹，夹渣，发纹等）磁导率和钢铁磁导率的差异，磁化后这些材料不连续处的磁场将发生崎变，形成部分磁通泄漏处工件表面产生了漏磁场，从而吸引磁粉形成缺陷处的磁粉堆积-磁痕，在适当的光照条件下，显现出缺陷位置和形状。3、RT：RADIOGRAPHIC test 射线检测X射线与自然光并没有本质的区别，都是电磁波，只是X射线的光量子的能量远大于可见光。它能够穿透可见光不能穿透的物体，而且在穿透物体的同时将和物质发生复杂的物理和化学作用，可以使原子发生电离，使某些物质发出荧光，还可以使某些物质产生光化学反应。如果工件局部区域存在缺陷，它将改变物体对射线的衰减，引起透射射线强度的变化，这样。金相组织与晶粒度检验有什么区别？二者的使用范围相同么？ 金相是检测试样的内部组织形貌、析出物等，晶粒度只是测量晶粒的大小。两者都可以在显微镜下完成。一般都采用比较法测定晶粒度，在用比较法测定时，应遵循下面的评定原则：a.试样制好后，在100倍的显微镜下测定。其视场直径为0.80mm。b.测定时，首先在显微镜上作全面观察，然后选择晶粒度具有代表性的视场与标准中的1-8级级别图相比较，确定试样晶粒度的级别。c.如果显微镜的放大倍数不是100倍时，仍可按标准晶粒度级别图测定其晶粒度，随后根据所选用的倍数按表9-1换算成100倍时的标准晶粒度级别。d.标准图可用带8级晶粒度刻度毛玻璃屏为准目的就是看组织是否均匀，正火温度不够会导致金相组织不均匀的。只要你的样块是在样件上截取的，且数量好和位置满足取样标准，当然是可以的。我做金相好多年多了，QQ740516303没问题的。

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