如何产生椭圆偏振光 总体2113思路就是将一束同相位光分成5261两束，分别通过相互垂直的偏振片4102，再用透明薄片将其中1653一束光的相位延迟1/4，并将分开的这两束光重新混合，得到椭圆偏振光。椭圆的偏振光是指光的电场方向或光矢量末端在垂直于传播方向的平面上描绘出的轨迹。当两个相互垂直的振动同时作用于一点时，若它们的频率相同并且有固定的位相差，则该点的合成振动的轨迹一般呈椭圆形。
怎样用1/4波片产生椭圆偏振光和圆偏振光？ 必须用1/4波片，首2113先用偏振片得到线5261偏光，放入1/4波片，旋转波片，让光轴和偏4102振光的振动方向1653成45度角，则得到圆偏光，如果二者是平行或者垂直（夹角0度或者90度），则得到线偏光，其他情况得到椭圆偏振光。四分之一波片（quarter-wave plate）一定厚度的双折射单晶薄片。当光法向入射透过时，寻常光（o光）和非常光（e光）之间的位相差等于 π/2或其奇数倍，这样的晶片称为四分之一波片或 1/4波片。当线偏振光垂直入射1/4波片，并且光的偏振和云母的光轴面（垂直自然裂开面）成θ角，出射后成椭圆偏振光。特别当θ=45°时，出射光为圆偏振光。玻片的快轴和慢轴，与晶体的类型有关。负晶体的Ve>；Vo，玻片光轴方向平行于玻片平面，负晶体做的四分之一玻片的光轴方向就是快轴方向。正晶体快轴方向垂直于光轴方向位于玻片平面内。
跪求用椭圆偏振法测量薄膜厚度及折射率的实验数据 椭圆偏振光法测定介质薄膜的厚度和折射率在现代科学技术中，薄膜有着广泛的应用.因此测量薄膜的技术也有了很大的发展，椭偏法就是70年代以来随着电子计算机的广泛应用而发展起来的目前已有的测量薄膜的最精确的方法之一.椭偏法测量具有如下特点：能测量很薄的膜（1nm），且精度很高，比干涉法高1-2个数量级.是一种无损测量，不必特别制备样品，也不损坏样品，比其它精密方法：如称重法、定量化学分析法简便.可同时测量膜的厚度、折射率以及吸收系数.因此可以作为分析工具使用.对一些表面结构、表面过程和表面反应相当敏感.是研究表面物理的一种方法椭偏仪的光路图椭偏仪的基本原理入射光的P分量入射光的S分量反射光的P分量和S分量的比值—椭圆参量r=RP/Rs=tanyexp(iD)=f(n1，n2，n3，f1，d，l）
