椭圆偏振仪测薄膜厚度和折射率时，对薄膜有什么要求？1 问：90W的太阳能电池板用什么控制器 答：控制器说明书中有电池板、控制器、蓄电池及灯具的连接示意图，这个图片可供。
线偏振光通过1/4波片，1/2波片后，偏振状态发生了什么变化 线偏光经过四分之一波片后会变为椭圆偏振光或圆偏振光（线偏光振动方向与玻片光轴方向夹角θ=45°时），只有当线偏光的振动方向与检偏器的允许振动方向垂直时，在θ=0、90、180、270度时为线偏振光，且出射线偏光振动方向与入射偏振光的相同，这也是为什么旋转四分之一玻片会有四次消光的原因.
椭圆偏振技术的基本原理 此技术是用来测量“光在反射或穿透样品时，其偏振性质的改变”这样一个数据实验。通常，椭圆偏振多在反射模式下进行。偏振性质的改变主要是由样品的性质，如厚度、复折射率或介电性质（参见英文版Dielectric function），来决定。虽然光学技术受制于先天绕射极限的限制，椭圆偏振却可借由相位资讯及光偏振之状态的改变，来取得埃等级的解析度。在最简单的形式下，此技术可适用于厚度小于一奈米到数微米之间的薄膜。样品必须是由少数几个不连续而有明确介面、光学均匀且具等向性且非吸收光的膜层构成。根据上述的假设，则会不符合标准椭圆偏振处理的程序，因此需要对此技术改进以符合其应用.
