寿命试验的寿命试验设计方法 进行寿命试验设计时要考虑如下的问题：1．试验条件及失效判据标准要确定；2．试验样品的选取及抽样数；3．试验的测试项目及测试设备；4．试验的测试周期及截至时间的确定；5．试验结果的数据处理方法。除了以上寿命试验的要考虑的问题外，加速试验方法还要注意以下要求：a)提高试验的应力条件，应力条件主要有环境应力和电应力；b)可靠性测试满足寿命试验的失效机理，但不能增加新的失效机理。
加速寿命试验的简介 加速寿命试验的统一定义最早由美罗姆航展中心于1967年提出，加速寿命试验是在进行合理工程及统计假设的基础上，利用与物理失效规律相关的统计模型对在超出正常应力水平的加速环境下获得的信息进行转换，得到产品在额定应力水平下的特征可复现的数值估计的一种试验方法。简言之，加速寿命试验是在保持失效机理不变的条件下，通过加大试验应力来缩短试验周期的一种寿命试验方法。加速寿命试验采用加速应力水平来进行产品的寿命试验，从而缩短了试验时间，提高了试验效率，降低了试验成本。进行加速寿命试验必须确定一系列的参数，包括(但不限于)：试验持续时间、样本数量、试验目的、要求的置信度、需求的精度、费用、加速因子、外场环境、试验环境、加速因子计算、威布尔分布斜率或β参数(β表示早期故障，β>；1 表示耗损故障)。用加速寿命试验方法确定产品寿命，关键是确定加速因子，而有时这是最困难的。一般用以下两种方法。
电子产品高加速寿命试验方法，高加速寿命试验HALT：HighlyAcceleratedLifeTet技术是目前国际上比较流行的可靠性试验技术，它的优点是根据被测产品的自身特点及产品的使用。
