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高加速寿命试验 英文 高加速寿命测试的过程是怎样的?

2021-03-23知识7

加速寿命试验的简介 加速寿命试验的统一定义最早由美罗姆航展中心于1967年提出,加速寿命试验是在进行合理工程及统计假设的基础上,利用与物理失效规律相关的统计模型对在超出正常应力水平的加速环境下获得的信息进行转换,得到产品在额定应力水平下的特征可复现的数值估计的一种试验方法。简言之,加速寿命试验是在保持失效机理不变的条件下,通过加大试验应力来缩短试验周期的一种寿命试验方法。加速寿命试验采用加速应力水平来进行产品的寿命试验,从而缩短了试验时间,提高了试验效率,降低了试验成本。进行加速寿命试验必须确定一系列的参数,包括(但不限于):试验持续时间、样本数量、试验目的、要求的置信度、需求的精度、费用、加速因子、外场环境、试验环境、加速因子计算、威布尔分布斜率或β参数(β表示早期故障,β>;1 表示耗损故障)。用加速寿命试验方法确定产品寿命,关键是确定加速因子,而有时这是最困难的。一般用以下两种方法。

高加速寿命试验的意义 HALT的可靠性测试技术在国内外电子业界已得到广泛关注和认识。因其具有传统的环境试验技术难以媲美的功效,目前被国外众多知名企业采用。该试验直接体现出来的重要性,有以下几点:1.快速暴露产品潜在缺陷;2.通过试验→改进→验证这一循环方式,有效增加产品的极限值;3.产品可靠性得到明显提升;4.大大缩短产品研发、设计、生产和上市周期;5.长远来看,降低产品成本。

加速寿命试验的范围 除了以上所提的问题外,在规划加速寿命试验时须综合考虑下列问题,才能选定加速寿命试验的条件,以决定其适用的范围:1、施加应力之大小不同可能形成不同的失效模式,在此种情形下,应力加速法之使用受到限制。2、失效发生时间与施加应力强度之间,可能因应力大小之不同或因机械操作条件不同而有不同的关系,放在加速寿命试验规划之初,就应该注意到此种应力加速适用范围的问题。3、可在若干不同的试验方法及不同的失效分析基准之中,选用加速因子较大的方法,以较短试验时间评估寿命的效用。4、产品在实地使用状况下,应力的变动大,失效发生的条件方可因使用者不同而异;或即使是反应机构相同的失效,分散亦颇不均匀,因此利用实验数据推定实际使用寿命时,应尽量指定累积失效率加以推定,以避免因数据不充足造成错误的分析。

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高加速寿命试验的试验的设备要求 高加速寿命试验(HALT)设备,必须包括满足以下要求的温度试验和振动试验两项基本能力,并且能同时进行温度和振动的组合试验。1)6自由度(三轴向六个自由度)的重复冲击振动功能和准随机振动功能;2)振动能量可分布带宽:10Hz~10000Hz;3)台面的最大振动输出量级不小于35Grms(台面不加负载)。温度试验是为了对产品进行快速的温度变化试验,这就要求HALT试验设备的空气循环系统能产生足够大的风速,达到产品快速温变效果以及保持温度稳定。设备温度试验参数要求如下:快速温变能力(最大温变速率不小于45℃/min);温度变化范围:-80℃~+170℃。进行高加速寿命试验(HALT)时,需采集并监控试验样品的响应数据,包括温度信息、振动信息以及性能参数等。须配备温度采集装置,收集并储存温度传感器的数据信息,以验证试验过程中的温度应力是否真正施加到产品上。这可以通过HALT试验设备系统本身的温度采集系统进行采集,还可以利用其它的多通道温度采集系统来实现。温度采集装置中的热电偶,必须在(-100℃~+200℃)的温变范围内有稳定的温度感应特性,热电偶的线径(直径)应不大于0.3274mm。进行HALT试验,需准备足够的液氮,保证实验顺利进行。另压缩机产生。

加速寿命试验的比较

高加速寿命试验的简介 高加速寿命试验HALT一词是Gregg K.Hobbs 于1988年提出的。是一种利用阶梯应力加诸于试品,并在早期发现产品缺陷、操作设计边际及结构强度极限的方法。试品通过HALT所暴露的缺陷,涉及线路设计、工艺、元部件和结构等方面。HALT的主要目的是在产品设计和试产阶段,通过试验,快速发现产品的潜在缺陷,并加以改进和验证,从而增加产品的极限值,提高其坚固性及可靠性。施加于试品的应力,包括振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。HALT试验是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法,现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周,且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致,故HALT的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。在产品研制阶段,为得出产品设计裕度和极限承载能力(破坏或损伤极限)而设计的一种试验,它应用步进的方法给产品施加环境应力并检测其性能,直到产品失效为止。为提高试验效率,所施应力并非工作环境的模拟而是加速应力,通常为高变温率(至少应大于25°C/min)的温度循环和多轴随机振动,还包括有通电循环、电压偏。

电子产品高加速寿命试验方法,高加速寿命试验HALT:HighlyAcceleratedLifeTet技术是目前国际上比较流行的可靠性试验技术,它的优点是根据被测产品的自身特点及产品的使用。

高加速寿命试验的对试验样品的要求 1.试验样品应该用序列号或其它标识区分。2.试验中要确认有一个热电偶粘贴在样品上,作为试验中温度校准控制的热电偶传感器。试验温度校准控制系统为一个闭环的温度感应调控系统。热电偶感应温度应该尽量接近试验的平均温度,应该粘贴在样品的外表面,尽量安装在热容量相对较低的位置。不应把热电偶安装在发热部件附件或样品的密闭空间内。3.试验中,应该尽量保证温度应力和振动能量能最大化地传导给安装在试验台上的试验样品。高加速寿命试验(HALT)的目的是以通过加速样品疲劳的方法来发现样品的弱点。为达到准确的试验效果,需要确定最佳的试验样品应力极值。4.需要考虑样品的尺寸和重量,选择合适的HALT试验设备进行试验。5.可以通过修改样品的框架来提高样品的热传导速率。例如,拆除样品的面板或外壳,在样品的底部开孔形成空气的流通通道等。6.试验中,要把监测样品温度的热电偶粘贴在合适的位置。一般放在以下几个位置:发热量大的元件与部件;对温度敏感的电子元件和部件;高热容量的部件。把热电偶粘贴在高热容量部件上,可以帮助确定必要的温度极值点的试验停留时间,使样品达到稳定的温度。7.尽量使台面振动量1:1传递到试验样品上。8.测量试验样品振动。

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