如何由两个1/4波片组成一个1/2波片？ 两片1/2玻片按同样的方向放，也就是两片的快轴32313133353236313431303231363533e59b9ee7ad9431333337616561方向和慢轴方向一致，叠在一起，就是1/2玻片。玻片：waveplate 能使互相垂直的两光振动间产生附加光程差（或相位差）的光学器件。通常由具有精确厚度的石英、方解石或云 母等双折射晶片做成，其光轴与晶片表面平行。以线偏振光垂直入射到晶片，其振动方向与晶片光轴夹 θ 角（θ≠0、），入射的光振动分解成垂直于光轴（o 振 动）和平行于光轴（e振动）两个分量，它们对应晶片中的 o光和e光（见双折射）。晶片中的o光和e光沿同一方向传播，但传播速度不同(折射率不同)，穿出晶片后两种光间产生(n0－ne)d光程差（见光程），d为晶片厚度，n0和ne为o光和e光的折射率，两垂直振动间的相位差为Δj=2π（n0－ne）d/λ。两振动一般合成为椭圆偏振（见光的偏振）。Δj=kπ（k为整数）时合成为线偏振光；Δj=（2k+1）π/2，且θ=45°时合成为圆偏振光。凡能使o光和 e光产生λ/4附加光程差的波片称为四分之一波片。若以线偏振光入射到四分之一波片，且θ=45°，则穿出波片的光为圆偏振光；反之，圆偏振光通过四分之一波片后变为线偏振光。凡能使o光和e光产生λ/2附加光程。
椭圆偏正光法测薄膜厚度
跪求用椭圆偏振法测量薄膜厚度及折射率的实验数据 椭圆偏振光法测定介质薄膜的厚度和折射率在现代科学技术中，薄膜有着广泛的应用.因此测量薄膜的技术也有了很大的发展，椭偏法就是70年代以来随着电子计算机的广泛应用而发展起来的目前已有的测量薄膜的最精确的方法之一.椭偏法测量具有如下特点：能测量很薄的膜（1nm），且精度很高，比干涉法高1-2个数量级.是一种无损测量，不必特别制备样品，也不损坏样品，比其它精密方法：如称重法、定量化学分析法简便.可同时测量膜的厚度、折射率以及吸收系数.因此可以作为分析工具使用.对一些表面结构、表面过程和表面反应相当敏感.是研究表面物理的一种方法椭偏仪的光路图椭偏仪的基本原理入射光的P分量入射光的S分量反射光的P分量和S分量的比值—椭圆参量r=RP/Rs=tanyexp(iD)=f(n1，n2，n3，f1，d，l）
什么是光学1/4波片 四分之一波片（quarter-wave 四分之一波片（quarter-wave plate）是一定厚度的双折射单晶波片。当光从法向入射透过波片时，寻常光（o光）和非常光（e光）之间的位相差等于 。
为什么有很多人说中国教育不好？美式教育和中式教育差别到底在什么地方？教育好坏的评判标准是什么？
一定厚度的双折射单晶薄片。当光法向入射时，寻常光和非常光之间的相位差等于π/2或其奇数倍，这样的晶片称为四分之一玻片。当线偏振光垂直入射四分之一玻片，并且光的偏振和云母的光轴面成θ角，出射后成椭圆偏振光（θ=45度时，为圆偏振光）。
