如何解释椭圆偏振光的现象 单纯的使用2113偏振无法完全区分这四种5261偏振光，应该再加4102上一个1/4玻片，具体如下用偏振1653片进行观察，1.若光强随偏振片的转动没有变化，这束光是自然光或圆偏振光。这时在偏振片之前放1/4玻片，再转动偏振片。如果强度仍然没有变化是自然光；如果出现两次消光，则是圆偏振光，因为1/4玻片能把圆偏振光变为线偏振光2.如果用偏振片进行观察时，光强随偏振片的转动有变化但没有消光，则这束光是部分偏振光或椭圆偏振光。这时可将偏振片停留在透射光强度最大的位置，在偏振片前插入1/4玻片，使玻片的光轴与偏振片的投射方向平行，再次转动偏振片会若出现两次消光，即为椭圆偏振光，即椭圆偏振片变为线偏振光；若还是不出现消光，则为部分偏振光3.如果随偏振片的转动出现两次消光，则这束光是线偏振光
什么是椭圆偏振光和直线偏振光 椭圆偏振光光矢量端点在垂直于光传播方向的截面内描绘出椭圆轨迹.检偏器旋转一周，光强两强两弱.椭圆偏振光可用两列沿同一方向传播的频率相等、振动方向相互垂直的线偏振光叠加得到.这两列线偏振光的相位差不等于0、π；如果二线偏振光的振幅相等，它们的相位差应不等于0、±π/2、π.偏振光(Polarization)光是一种电磁波，电磁波是横波.而振动方向和光波前进方向构成的平面叫做振动面，光的振动面只限于某一固定方向的，叫做平面偏振光或线偏振光.通常光源发出的光，它的振动面不只限于一个固定方向而是在各个方向上均匀分布的.这种光叫做自然光.光的偏振性是光的横波性的最直接，最有力的证据，光的偏振现象可以借助于实验装置进行观察，P1、P2是两块同样的偏振片.通过一片偏振片p1直接观察自然光（如灯光或阳光），透过偏振片的光虽然变成了偏振光，但由于人的眼睛没有辨别偏振光的能力，故无法察觉.如果我们把偏振片P1的方位固定，而把偏振片P2缓慢地转动，就可发现透射光的强度随着P2转动而出现周期性的变化，而且每转过90°就会重复出现发光强度从最大逐渐减弱到最暗；继续转动P2则光强又从接近于零逐渐增强到最大.由此可知，通过P1的透射光与原来的入射光性质是有所不同的。
椭圆偏振光的详细介绍 自然光在晶体内所产生的寻常光（o光）和非常光（e光），虽属频率相同和振动方向相互垂直，但是，它们之间的位相差，即使在同一点，亦因时而异，不是固定的，所以这样的o光。
光的偏振：1，这样检测椭圆偏振光的形状？当测出椭圆形状不对称时，试分析其原因.2，怎样才能得到圆偏振 让一束线偏振光的方位以和四分之一波片的快轴方向夹角为45°穿过波片，得到圆偏振光.波片的作用是使得偏振的x分量和y分量之间的相位延迟.二分之一波片的相位延迟为pai的整数倍，四分之一波片的相位延迟是1/2π的整数倍.检测椭圆偏振光可以用偏振态测量仪.
椭圆偏振光发展历史 光的电矢量末端在垂直于传播方向的平面上描绘的轨迹为一圆的偏振光，在椭圆偏振光图1的装置中，如果
椭圆偏振技术的简介 分析自样品反射之极化光的改变，椭圆偏振技术可得到膜厚比探测光本身波长更短的薄膜资讯，小至一个单原子层，甚至更小。椭圆仪可测得复数折射率或介电函数张量，可以此获得基本的物理参数，并且这与各种样品的性质，包括形态、晶体质量、化学成分或导电性，有所关联。它常被用来鉴定单层或多层堆叠的薄膜厚度，可量测厚度由数埃（Angstrom）或数奈米到几微米皆有极佳的准确性。之所以命名为椭圆偏振，是因为一般大部分的极化多是椭圆的。此技术已发展近百年，现在已有许多标准化的应用。然而，椭圆偏振技术对于在其他学科如生物学和医学领域引起研究人员的兴趣，并带来新的挑战。例如以此测量不稳定的液体表面和显微成像。1 基本原理 2 实验细节 2.1 实验装置 2.2 数据搜集 2.3 数据分析 3 定义 3.1 单波长 与 光谱 椭圆偏振技术 3.2 标准 与 广义 椭圆偏振理论(非等向性)3.3 琼斯矩阵 与 穆勒矩阵 型式（去偏极化）4 进阶实验方法 4.1 椭圆偏振成像 4.2 原位椭圆偏振 4.3 椭圆偏振孔隙测定 4.4 磁光广义椭圆偏振 5 优势
椭圆偏振光是部分偏振光吗？有什么区别 偏振光又可分为平面偏振光（线偏光）、圆偏振光和椭圆偏振光、部分偏振光几种。如果光波电矢量的振动方向只局限在一确定的平面内，则这种偏振光称为 平面偏振光，若轨迹在传播过程中为一直线，故又称 线偏振光。如果 光波电矢量随时间作有规则地改变，即电矢量末端轨迹在垂直于传播方向的平面上呈圆形或椭圆形，则称为 圆偏振光或椭圆偏振光。如果 光波电矢量的振动在传播过程中只是在某一确定的方向上占有相对优势，这种偏振光就称为 部分偏振光。
椭圆偏振技术的基本原理 此技术是用来测量“光在反射或穿透样品时，其偏振性质的改变”这样一个数据实验。通常，椭圆偏振多在反射模式下进行。偏振性质的改变主要是由样品的性质，如厚度、复折射率或介电性质（参见英文版Dielectric function），来决定。虽然光学技术受制于先天绕射极限的限制，椭圆偏振却可借由相位资讯及光偏振之状态的改变，来取得埃等级的解析度。在最简单的形式下，此技术可适用于厚度小于一奈米到数微米之间的薄膜。样品必须是由少数几个不连续而有明确介面、光学均匀且具等向性且非吸收光的膜层构成。根据上述的假设，则会不符合标准椭圆偏振处理的程序，因此需要对此技术改进以符合其应用.
如何产生椭圆偏振光
