X射线近边吸收精细结构谱近边吸收一般需要的样品质量多少？ 你问线站的老师，如果是需要压片，表面平整，一般几克就够了，我在XRF线站做过单颗粒的吸收谱，所需量非常少
扩展X射线吸收精细结构分析是怎样的方法呢？ 扩展X射线吸收精细结构分析是用扩展X射线吸收精细谱确定吸收原子近邻结构参量的方法。通常在X射线吸收曲线上，除在K、L等吸收限处发生突变外，其余部分随入射波长的增加而。
最低0.27元开通文库会员，查看完整内容>；原发布者：BD876055832第五章扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)(ExtendedX-RayAbsorptionFineStructure)前言-X射线吸收(XAS)现象基本原理数据拟合数据采集应用实例就材料的基本性质(化学的和物理的)而言，长程有序并不是必须的，处于主导地位的是材料内部粒子排布的短程有序状态。EXAFS-局域原子结构的表征方法晶体学的理论和结构研究方法不适用于非晶体，而EXAFS的理论和方法却能同时适用于晶体和非晶体.前？言X射线与物质的相互作用XAS(X-rayAbsorptionSpectroscopy)现象XAFS(X-rayAbsorptionFineStructure)现象EXAFS现象XANES现象前言X射线与物质的相互作用？一束能量为E的X射线穿透物质时，强度因物质吸收有所衰减，入射光强度为Iο，穿过厚度为d的物质后强度为I，则I=I0e-(E)d(1)吸收系数(E)是X射线光子能量的函数XAS现象(X-rayAbsorptionSpectroscopy)X-射线穿过物质时产生吸收，吸收系数随e799bee5baa6e58685e5aeb931333433623830X-光光电子能量变化。当X-光波长小到某一特定值λο时，即当光子能量与原子内层某一电子能级（K或L层）的电子结合能相同时，即激发原子的K或L层电子。即光子能量大到足以激发原子内层电子时，产生吸收的突变。
X射线谱的基本原理 X射线谱可分为发射区射线谱和吸收区射线谱，波长范围为700～0.1┱。发射谱有两组：连续谱和叠加其中的标识（特征）谱。连续X射线谱 高速带电质点(如电子、质子、介子等)与物质相碰，受物质原子核库仑场的作用而速度骤减，质点的动能转化为光辐射能的形式放出。带电质点的速度从υ1降到υ2，相应地发生波长为 λ0的辐射，这是h是普朗克常数，с为光速，m是带电质点的质量。因此连续谱存在一短波限，其最短波长λ0相应于υ2=0时的波长。例如，在普通X射线管中，管电压为V(伏)时，其中e为电子电荷。1a是钨阳极X射线管在不同管压下的连续X射线谱，1b是相同管电压(10kV)下不同阳极材料的连续X射线谱。连续谱的λ0与阳极的原子序数Z无关，它仅与质点的动能有关，Z只影响连续谱的积分强度，X射线的输出功率为kiZV2(i为管电流），其效率为kZV，k=1.1～1.4×10-9。强度最大值的波长。X射线管所发射的连续谱强度在空间各个方向的分布是不相等的。连续 X射线谱中某一波长的强度与管电压存在着严格的线性关系，根据这一关系外推，可得相应于该波长的管电压，利用这个方法可求得相当精确的两个基本物理常数h和e的比值。标识（特征）X射线谱，当冲击物质的带电质点或光子的能量足够大时，。
请简述扩展X射线吸收谱精细结构(EXAFS)分析方法可以用来检测什么信息？其测试原理是什么？特点是什么？
什么机构可以进行X射线吸收精细结构光谱(EXAFS)分析，样品大概需要进行些什么前处理？做这个需要同步辐射光源。世界上有近40台同步辐射光源正在运行，还有几十台在设计、。
高砷煤中砷赋存状态的扩展X 射线吸收精细结构谱研究 摘 要 测定贵州兴仁、兴义晚二叠世6个高砷无烟煤样品中As含量为94.1μg·g－1～3.2%，Sb含量为8.1～120μg·g－1。对样品的矿物学研究表明，未发现任何含As或As的独立矿物，As是赋存在煤有机组分中。应用同步辐射X射线吸收精细结构仪测定样品中As的结构发现，赋存在高砷煤有机组分中的As与O配位，除在1个样品中As与3个O配位外，在其余样品中As均与4个O配位。因此，高砷煤中的As不是赋存在硫化物矿物中，而是赋存在砷酸盐或亚砷酸盐相中，且主要是砷酸盐相。任德贻煤岩学和煤地球化学论文选辑由于煤中微量元素的浓度很低，因此研究其赋存状态极其困难，目前还没有成熟的研究方法。近20年来，由于同步辐射X射线技术的发展，X射线吸收精细结构(X_rayabsorp-tionfinestructure，简称XAFS)在多种学科的研究中日益发挥着更大的作用。近年来，Huff-man等人［1～3］运用同步辐射X射线吸收精细结构谱方法开创性地研究了煤、煤制产品及煤灰中某些元素的赋存状态，他们于1992年研究了煤和煤产品中S的分子结构、褐煤中K和Ca的赋存状态及其在热解、气化过程的变化；在1994年报道了对煤及燃煤产物中As及Cr的赋存状态的研究结果；在1996年总结了应用XAFS研究煤中微量元素赋存状态的。
X射线结构分析的测定内容是什么？ X射线结构分析是利用X射线仪器测定物质微观结构与晶体缺陷的方法。例如，由四圆单晶衍射仪可得到晶胞中原子坐标、原子间的键长和键角等参数；用粉晶衍射仪可测定晶系、晶胞。
关于NEXAFS？
