反极图确定织构指数 择优取向的织构取向的表示

用XRD来分析织构不知道怎么测试和怎么分析啊？ XRD是可以分析宏观织构的。对于变形态的合金，就是用XRD衍射仪获取极密度数据计算得极图，XRD衍射仪自带的软件可以通过数据作出ODF、极图、反极图。比如，挤压态，做的时候。择优取向的织构取向的表示 织构一般用 X射线衍射法测定的极图表示。常用的有二种形式：第一种为正极图，它是一种对于材料中某一选定的低指数（h k l）面，表明其极点密度随极点取向而变化的极射赤平投影图。图2为冷轧 08Al钢板的极图。图中数字表示取向密度值，以完全无择优取向时不同方向的取向密度为1，则取向密度大于1表示试样中接近这一取向的晶粒体积大于无择优取向时具有该取向的晶粒的体积。取向密度小于1的意义相反。第二种为反极图，它是把材料某一特定方向上的晶粒取向密度绘制在单晶标准投影图上。因为是投影图，这两种方式都较难确切分析极织构的类型和定量地表示织构。60年代后期研究工作者提出取向分布函数法(ODF)，完善了织构的表示方法。这种方法是把分别表示材料外观和晶粒位置的二组坐标系O－A B C和O-XYZ之间的取向关系用一组欧拉角表达：即O－XYZ相对于O-A B C的任一取向均可通过三次转动ψ、θ、嗞 实现。这里，首先约定O－XYZ与O－A B C完全重合为起始取向；令O－XYZ绕OZ转动ψ角为第一转动，绕转动后的OY转动θ角为第二转动；第三转动则是再绕新的OZ继续转动嗞 角。这三个转角数值ψ、θ、嗞完全规定了 O－XYZ的取向。若以ψ、θ、嗞为坐标轴建立O－ψ θ 嗞的直角坐标系。反极图的用途 通常，反极图最适合于用来表示丝织构，但由于G.B.哈利斯(Harris)式反极图测绘容易，早期它也常用于板织构研究。板织构材料的特征外观方向则有三个：轧向、横向、轧面法向，就需作三张反极图，它们分别表示了三个特征外观方向在晶体学空间的分布几率。在每张反极图上，分别表明了相应的特征外观方向的极点分布。其中一张是轧向反极图，表示了各晶粒平行轧向的晶向的极点分布；另一张是轧面法向反极图，表示了各晶粒平行于轧面法线的晶向的极点分布；第三张是横向反极图，表示了各晶粒平行于横向的晶向的极点分布。不同晶系，反极图形状有所不同。由于晶体有对称性，标准投影图可以划分为若干个晶向等效区。立方晶系对称性高，标准投影图中以、和三族晶向为顶点，可将上半球面投影划分成24个等效区。一般选用[111]？FONT>；[011]？FONT>；[001]构成的球面三角投影，已足以表示出所有方向。正交晶系只需取投影图的一个象限即可表示。反极图表示法可给出织构材料的轧向、轧面法向、横向在晶体学空间中的分布。而材料的板织构类型是用尝试法、从分立的三张反极图中来判定的，但有些板织构类型难于用反极图作出判断，因此，用这种方法判定板织构类型有时有可能引起误判、漏判。面心立方金属孪生的和都是{111}，在一个特定的{111)面，例如（111)面有几种产生孪晶的方法，写出它们的的方向指 解面心立方金属孪生的孪生方向是(112)方向，必在面上。如果在(111)面上发生孪晶，根据晶带定律，在(111)面上的是[112]、[121]和[211]三种。如何对x射线图进行物相分析，请写出详细步骤 晶体的X射线衍射图像实质上是晶体微观结构的一种精细复杂的变换，每种晶体的结构与其X射线衍射图之间都有着一一对应的关系，其特征X射线衍射图谱不会因为它种物质混聚在一起而产生变化，这就是X射线衍射物相分析方法的依据.制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化，将待分析物质的衍射花样与之对照，从而确定物质的组成相，就成为物相定性分析的基本方法.鉴定出各个相后，根据各相花样的强度正比于改组分存在的量（需要做吸收校正者除外），就可对各种组分进行定量分析.目前常用衍射仪法得到衍射图谱，用“粉末衍射标准联合会（JCPDS）”负责编辑出版的“粉末衍射卡片（PDF卡片）”进行物相分析.目前，物相分析存在的问题主要有：⑴ 待测物图样中的最强线条可能并非某单一相的最强线，而是两个或两个以上相的某些次强或三强线叠加的结果.这时若以该线作为某相的最强线将找不到任何对应的卡片.⑵ 在众多卡片中找出满足条件的卡片，十分复杂而繁锁.虽然可以利用计算机辅助检索，但仍难以令人满意.⑶ 定量分析过程中，配制试样、绘制定标曲线或者K值测定及计算，都是复杂而艰巨的工作.为此，有人提出了可能的解决办法，认为 从相反的角度出发，根据标准数据（PDF卡片）利用计算机对。晶体一对相互平行的镜面，它们在表现什么关系极射赤道平面投影图 1、EBSD测定织构用种形式表达极图、反极图、ODF等（见图5）同X-ray衍射测织构相比EBSD具能测微区织构、选区织构并晶粒形貌与晶粒取向直接应起优点另外X射线测织构通测定衍射强度反推晶粒取向情况计算精确度受选用计算模型、各种参数设置影响般测织构与实际情况偏差15%EBSD通测定各晶粒绝取向进行统计测定织构认EBSD目前测定织构准确手段与X-ray比EBSD存制麻烦等缺点2、用EBSD同测定两相晶体取向确定两相间晶体关系确定两相间晶体关系般需要测定30处两相各自晶体取向并所测定结同投影同极射赤面投影图进行统计才能确立两相间晶体关系[3]与透射电镜X-ray 相比采用EBSD测定两相间晶体取向关系具显著优越性用于EBSD测试品表面平整、均匀便找30两相共存位置同晶粒取向用软件自计算透射电镜由于品薄区关系难于同品找30两相共存位置另外其晶粒取向需手计算X-ray般由于没像装置难于准确X-ray定位所测定位置3、另外第二相与基体间惯习面、孪面、滑移面等品表面留迹线尤其两晶粒表面留迹线采用EBSD确定些面晶体指数用XRD来分析织构不知道怎么测试和怎么分析啊？ 一般先测极图，然后再用ODF分析织构的类型。如果合金样品是挤压的，一般形成丝织构，不测极图也行。如果是轧制样品必须测极图，然后用ODF分析一下。测极图一般分为反射法和透射法，但透射法制样麻烦，一般用反射法测，然后再用ODF软件把未测出部分反算出来即可。XRD可以测试宏观取向，如果分析微观取向则用EBSD。什么叫织构 http：//www.msal.net/lunshu/zhigou/zg.htm 织构的测定 摘自：《X射线衍射技术及设备》（鞍钢钢铁研究所，丘利、胡玉和编著，冶金工业出版社1999年出版）1 织构定义 单晶。怎么样看EBSD极图，就是给一张极图，怎么看出织构方向，判断方法，不要极图拍摄原理和概念，谢~~ 最简单的用标准投影图对

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