全球TMT2020年11月30日，半导体测试解决方案供应商，史密斯英特康发布全新 Volta180 测试头扩大Volta产品线，支持市场对更小间距的晶圆尺寸，晶圆级芯片封装和已知合格芯片（Known Good Die）的测试需求。Volta产品系列是史密斯英特康增强的解决方案，可以对最小引脚间距180um 的晶圆尺寸封装及晶圆级封装进行快速而可靠的测试，以确保它们符合规格并满足终端产品应用性能。
全新的Volta180系列引脚最小间距（PITCH）降至180um，是增强的晶圆级别测试解决方案，具备如下性能优势：
Volta 180可以满足在750，000次寿命测试下仍保持低且稳定的电阻，从而提供高精度的测量。
卓越的针头共面性可满足64 个工位，5000根探针同时进行测试，以提高生产效率
模组化的针头设计能确保维护时可进行快速更换，停机时间几乎为零。
全探针阵列设计允许现场根据不同产品配置探针位置，使得单个Volta 180探针头可测试多个产品。
