用什么软件测晶粒大小 Imagetool软件可以用于测定晶粒尺寸和晶粒面积，还有SISCIAS 8.0等。测量的方法有晶粒面积、晶粒直径、截线长度等标准。
bet中测量的数据如何计算晶粒尺寸 纳米材料的界面分析物质的尺寸到了纳米级别后由于表面电子能级的变化，导致纳米材料具有许多奇特的性能，从而使其具备奇异性和反常性，能使多种多样的材料改性，用途极为广泛.纳米效应包括的表面效应，量子尺寸效应，体积效应，宏观量子隧道效应界面相关效应等表面效应纳米材料尺寸小.表面能高，位于表面原子占相当大的比例，随着原子粒径的减小，表面原子数目迅速增加，原子配位数不足和高的表面能使这些原子具有高的活性.极不稳定和容易与别的原子结合.量子尺寸效应能级间距随着原子尺寸的减小而增大，当热能磁场能和电场能比平均能级间距还小时，就会呈现和宏观物体截然不同的特性称为量子尺寸效应.体积效应当超细微粒的尺寸和波长与光波波长和的布罗意波长等物理尺寸相当或更小时，晶体周期性边界条件被破坏，导致声，光，电磁，热力学等特征方面出现一些新的变化.宏观量子尺寸效应是指纳米颗粒具有贯穿是累的能力，界面相关效应，纳米结构材料中有大量的界面，具有反常高的扩散率，比如纳米铜材料的超塑性.纳米材料是处在0.1—100nm尺寸范围内，用肉眼和普通显微镜难以观测其显微结构。纳米微粒尺寸的表征，由于实验手段的不一，采用的表征技术各异，各种方法间有一定的。
XRD晶粒尺寸计算 利用谢乐公式来计算谢乐公式的应用方法Dc=0.89λ/(B cos θ)(λ为X 射线波长，B为衍射峰半高宽，θ 为衍射角)双线法（Williams-Hall）测定金属晶体中的微观应力 晶块尺寸小于0.1μm，且有不均匀应变时衍射线宽化。可用谢乐方程或Hall法作定量计算。1 衍射线宽化的原因 用衍射仪测定衍射峰的宽化包括仪器宽化和试样本身引起的宽化。试样引起的宽化又包括晶块尺寸大小的影响、不均匀应变（微观应变）和e799bee5baa6e59b9ee7ad9431333262356662堆积层错（在衍射峰的高角一侧引起长的尾巴）。后二个因素是由于试样晶体结构的不完整所造成的。2 谢乐方程 若假设试样中没有晶体结构的不完整引起的宽化，则衍射线的宽化仅是由晶块尺寸造成的，而且晶块尺寸是均匀的，则可得到谢乐方程：式中Size表示晶块尺寸（nm），K为常数，一般取K=1，λ是X射线的波长(nm)，FW（S）是试样宽化(Rad)，θ则是衍射角(Rad)。计算晶块尺寸时，一般采用低角度的衍射线，如果晶块尺寸较大，可用较高衍射角的衍射线来代替。此式适用范围为1-100nm。3 微观应变引起的线形宽化 如果存在微观应力，衍射峰的加宽表示为：式中Strain表示微观应变，它是应变量对面间距的比值，用百分数表示。4 Hall方法 。
测量宏观晶粒尺寸大小怎么测？1 问：晶体的大小由什么决定啊在生产过程 答：主要是与结晶的工艺有关，如降温的速度、晶体的形状、晶核的形状等等。如果是实验室的话，加。
晶粒截距和晶粒尺寸是一样的吗？在我们知道晶粒度的情况下怎么测量出晶粒的尺寸？ 同求，纯铜，磷脱氧铜等热处理后都会出现孪晶情况，晶粒测量该如何，还有晶粒长轴和短轴在晶粒尺寸区分的时候又该怎样处理呢？求专家解答
【求助】如何计算晶粒度
晶粒截距和晶粒尺寸是一样的吗？在我们知道晶粒度的情况下怎么测量出晶粒的尺寸？ 两个不是一个概念，但2113晶粒度和晶粒截距有对应5261关系。晶粒度指4102的是单位体积内晶粒的1653个数，在实践中。我们一般是通过测量晶粒截距，然后利用对应关系，推测出晶粒度。一般是在金相图中任意取3条（或以上）同样长度的线和晶粒相交，算出平均晶粒截距，而后通过晶粒截距和晶粒度之间的对应关系，算出晶粒度。纯手工，希望对你有帮助，如果有不清楚的地方，可以追问。
