闪烁γ能谱一测量但能γ射线的能谱，为什么是连续的分布？ γ射线在闪烁体探测器中会产生三种作用机制：电子对、康普顿散射以及光电效应，各个工作机制激化出光子能量不一样；再加上闪烁体分辨能力低，因此闪烁体谱仪测量单能射线不可能就一单能峰值
X射线的产生原理及其本质是什么？具有哪些特征？ 我的研究方向是工业X射线检测，就结合工业X射线产生和成像原理进行简单的介绍。1、X射线介绍X射线也称为伦琴射线，是由德国著名物理学家威廉？康拉德？伦琴（Wilhelm R？ntgen）于1895年11月在进行阴极射线的研究时发现的。X射线本质上是与微波、红外线、可见光和紫外线等一样的电磁波，电磁波是由光子组成的，由公式可知光子的能量与其波长成反比：式中，h是普朗克常量，c是光在真空中的速度，λ是光子的波长，ν是光子的频率。X射线对应的波长范围分布在几皮米到几纳米，具有较强的穿透性，因此工业上常用X射线检测物体的内部结构。下图为X射线在电磁波谱中的分布范围：X射线除了具有所有电磁波的共性之外，还具有一些特有的性质：物理效应：（1）穿透作用；（2）电离作用；（3）荧光作用；（4）热作用；（5）干涉、衍射、反射、折射作用。化学效应：（1）感光作用；（2）着色作用生物效应。2、X射线产生原理X射线的产生有三个不可缺少的条件：第一，能够产生自由电子的电子发射器；第二，能够使自由电子加速运动的电场；第三，能够使高速移动的电子瞬间减速的靶物质。根据上述三个条件，人们发明了能够产生X射线的X射线管，射线管的结构如下图所示：X射线管主要由产生。
X射线能谱定性分析快速有效，是电子探针和扫描电镜分析必须的组成部分。用X射线能谱仪测量试样特征X射线全谱中各谱峰的能量值，计算机释谱得出试样的元素组成。X射线能谱定性分析要注意背景的判别、峰的位移、峰的重叠、逃逸峰、二倍峰、和峰和其他干扰峰等问题，以免导致错误的分析结果。(1)背景的判别在使用X射线波谱仪时，偏离峰位对峰两侧的强度进行测量，用内插法估计出重叠在峰上的背景值。对于X射线能谱仪的Si(Li)探测器或SDD探测器记录下的能谱，此法只适用于孤立峰。实际上，因许多峰常靠得太近，无法用上述方法测出背景值，需通过计算法解决。若已考虑了脉冲堆积、逃逸峰和低峰拖尾，就可假设与峰重叠的背景全部由连续X射线所贡献。如果已知连续谱的形状和探测器的效率，则可通过计算校正任一能量峰的背景。由于能谱背景的计算比较繁杂，一般能谱定性分析多采用经验估计和简便的估算方法来判别。不仅孤立峰，就是重叠峰也可以先确定峰两端无峰区的背景值及相应的道数，然后按其背景的变化趋势，确定重叠峰中心位置的道数，粗略估算出重叠峰下面的背景值。(2)峰的位移峰的位置主要受增益和零点漂移的影响。峰的位移使峰的能量值发生变化，而定性分析是以。
