elcometer 456是否能测量PU或UV的涂层？ 应该可以吧
电镀膜厚mai到底是一个什么单位，1条等于多少mai？ 1mm=10u1u=10um电镀层膜2113厚一般在：0.02-0.05um，是靠的真空5261室的膜厚计算出来4102的。电镀：电镀（Electroplating），是利用电解原理在某1653些金属表面上镀上一薄层其它金属或合金的过程。电镀时，镀层金属或其他不溶性材料做阳极，待镀的工件做阴极，镀层金属的阳离子在待镀工件表面被还原形成镀层。能增强金属的抗腐蚀性（镀层金属多采用耐腐蚀的金属）、增加硬度、防止磨耗、提高导电性、光滑性、耐热性和表面美观。
fischer膜厚仪对身体有没有害 fischer膜厚仪采用磁阻法或者电涡流原理测量膜厚，这两种原理测量产生的电磁场和手机大小差不多，可以说对人体没有伤害，你可以询问下国内生产这样仪器的厂家中科朴道的工程师，他们会耐心给您解答。
什么是膜厚仪 膜厚仪又名膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感百应镀层度测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理是知，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚道度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。台式的荧光专X射线膜厚仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称属为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值·
叶片式空气流量计的工作原理
光学膜厚仪的使用及原理 光学薄膜测厚仪(SpectraThick Series)的核心技术介绍和原理说明SpectraThick series的特点是非接触，非破坏方式测量，无需样品的前处理，软件支持Windows操作系统等。ST series是使用可视光测量wafer，glass等substrates上形成的氧化膜，氮化膜，Photo-resist等非金属薄膜厚度的仪器。测量原理如下：在测量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可视光，这时光的一部分在膜的表面反射，另一部分透进薄膜，然后在膜与底层(wafer或glass)之间的界面反射。这时薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光产生干涉现象。SpectraThick series就是利用这种干涉现象来测量薄膜厚度的仪器。仪器的光源使用Tungsten Lamp，波长范围是400 nm~800 nm。从ST2000到ST7000使用这种原理，测量面积的直径大小是4μm~40μm(2μm~20μm optional)。ST8000-Map作为K-MAC(株)最主要的产品之一，有image processs功能，是超越一般薄膜厚度测量仪器极限的新概念上的厚度测量仪器。测量面积的最小直径为0.2μm，远超过一般厚度测量仪器的测量极限(4μm)。顺次测量数十个点才能得到的厚度地图(Thickness Map)也可一次测量得到，使速度和精确度都大大提高。这一技术已经申请专利。K-MAC(株)SpectraThick。
膜厚仪与涂层测厚仪的差别 膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。膜厚仪一般是测氧化膜层厚度，常见的铝基，铜基来氧化，测量时候用涂层测厚仪选择N（非磁性）探头源，这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理，配F合N探头，或者FN一体探头。氧化层一般是几微米到十几微米，百但是普通的涂层测厚仪误差比较大，需要用高精度的涂层测厚仪测量氧化层，比如中科朴道的PD-CT2涂层测厚仪就可以测量氧化层。两者是度只是根据材料有细微区别，不过现在使用者很多不了解，也相互称呼。
