OTDR测接续指标的时候，会算上哪些损耗呢
光纤的几种损耗的机理是什么？ （1）材料吸收损耗(i)本征2113吸收：光纤材料的固有吸5261收，它与电子4102及分子的谐振有关对于石英材料1653，固有吸收区在紫外波段和红外波段(ii)杂质吸收：由OH离子 等杂质造成的附加吸收损耗称为杂质吸收。杂质是主要的损耗源，最主要的杂质是过渡金属离子和OH离子。(iii)原子缺陷吸收：由于加热过程或者由于强烈的辐射造成，玻璃材料因受激而产生原子的缺陷，引起吸收光能，造成损耗。（2)散射损耗(i)瑞利散射损耗：散射体的尺寸比光波长小(ii)米氏散射损耗：不均匀性，大尺度的散射体引起，损耗与波长无关(3)弯曲损耗（辐射损耗）（i）宏弯：弯曲半径远大于光纤直径(ii)微弯：光纤成缆时轴向产生的随机性微弯
光纤损耗在多少合适 光纤损耗的理论计算公式：单模光纤：每公里0.25db*总公里数+活动链接器0.5db*n个=总损耗。多模光纤：每公里0.36db*总公里数+活动链接器0.5db*n个=总损耗。光纤损耗是指光纤每单位长度上的衰减，单位为dB/km。光纤损耗的高低直接影响传输距离或中继站间隔距离的远近。使光纤产生衰减的原因很多，主要有：吸收衰减，包括杂质吸收和本征吸收；散射衰减，包括线性散射、非线性散射和结构不完整散射等；其它衰减，包括微弯曲衰减等。
你好，otdr曲线图怎么更改时间啊，曲线图里边有个特性，那个时间怎么 用OTDR进行光纤测量三步：参数设置、数据获取曲线析工设置测量参数包括：(一)波选择(λ)：同波应同光线特性(包括衰减、微弯等)测试波般遵循与系统传输通信波相应原则即系统。
什么是光纤微弯传感器，试解释其原理 光纤微弯传感器是利用光纤中的微弯损耗来探测外界物理量的变化。它是利用多模光纤在受到微弯时，一部分芯模能量会转化为包层模能量这一原理，通过测量包zhidao层模能量或芯模能量的变化来测量位移或振动等。图1是其原理图。激光束经扩束、聚焦输人多模光纤。其中的非导引模由杂模滤除器去掉，然后在变形器作用下产生位移，光纤发生微弯的程度不同时，转化为包层模式的能量也随之改变。变形器由测微头调整至某一恒定变形量；待测的版交变位移由压电陶瓷变换给出。实验表明，该装置灵敏度达o．6fAV／A(它强烈依赖于多模光纤中的导引模式分布，高阶模越多，越易转化为包层模，灵敏度也就愈高)，相当于最小可测位移为o．01nm，动态范围可望超过110dB。这种传感器很容易推广到对压力、水声等的测量。光纤光缆等相关的权最好选择，高质量达标的，我们一般用菲尼特的。
谁能详细的解答OTDR曲线图怎么分析，怎么看得明白呢？求高手！
如何利用OTDR测试光纤的长度、损耗和末端？OTDR进行光纤测量的方法 一般采用光时域反射(OTDR)结构来实现被测量的空间定位。OTDR维修具有测试时间短、测试速度快、测试精度。
odtr光纤测试仪公里衰耗标准？三、衡量OTDR的性能指标 OTDR 衡量OTDR的性能指标-动态范围 1、动态范围：在满足给定误码的条件下，光端机输入连接器，能接收最大的光功率与。
如何利用OTDR测试光纤的长度、损耗和末端？ OTDR进行光纤测量的方法一般采用光时域反射(OTDR)结构来实现被测量的空间定位。OTDR维修具有测试时间短、测试速度快、测试精度高等优点。OTDR在光纤施工过程中一般要进行四次测试。用OTDR进行光纤测量可分为三步：参数设置、数据获取和曲线分析。人工设置测量参数包括：(1)熔接机维修时波长选择(λ)：因不同的波长对应不同的光线特性(包括衰减、微弯等)，测试波长一般遵循与系统传输通信波长相对应的原则，即系统开放1550波长，则测试波长为1550nm。(2)脉宽(Pulse Width)：脉宽越长，动态测量范围越大，测量距离更长，但在OTDR曲线波形中产生盲区更大；短脉冲注入光平低，但可减小盲区。脉宽周期通常以ns来表示。(3)测量范围(Range)：OTDR测量范围是指OTDR获取数据取样的最大距离，此参数的选择决定了取样分辨率的大小。最佳测量范围为待测光纤长度1.5～2倍距离之间。(4)平均时间：由于后向散射光信号极其微弱，一般采用统计平均的方法来提高信噪比，平均时间越长，信噪比越高。例如，3min的获得取将比1min的获得取提高 0.8dB的动态。但超过 10min的获得取时间对信噪比的改善并不大。一般平均时间不超过3min。(5)光纤参数：光纤参数的设置包括折射率n和后向。
怎样使用otdr6103测试仪测光缆的断点和损耗 用OTDR进行光纤测量可分为三步：参数设置、数据获取和曲线分析。人工设置测量参数包括：(1)波长选择(λ)：因不同的波长对应不同。
