细化晶粒的方法有哪些 方法：2113（1）在液态金属结晶时，提高冷5261却速度，增大过冷度，来促进自4102发形核。晶核数量愈多，则晶1653粒愈细。（2）在金属结晶时，有目的地在液态金属中加入某些杂质，做为外来晶核，进行非自发形核，以达到细化晶粒的目的，此方法称为变质处理。这种方法在工业生产中得到了广泛的应用。如铸铁中加入硅、钙等。（3）在结晶过程中，采用机械振动、超声波振动、电磁搅拌等，也可使晶粒细化。因为一般地说，在室温下，细晶粒金属具有较高的强度和韧性，所以需要细化晶粒。扩展资料：理想的铸锭组织是铸锭整个截面上具有均匀、细小的等轴晶，这是因为等轴晶各向异性小，加工时变形均匀、性能优异、塑性好，利于铸造及随后的塑性加工。要得到这种组织，通常需要对熔体进行细化处理。都与过冷度有关，过冷度增加，形核率与长大速度都增加，但两者的增加速度不同，形核率的增长率大于长大速度的增长率。在一般金属结晶时的过冷范围内，过冷度越大，晶粒越细小。铝及铝合金铸锭生产中增加过冷度的方法主要有降低铸造速度、提高液态金属的冷却速度、降低浇注温度等。但是，如果没有较多的游离晶粒的存在，增加激冷作用反而不利于细晶粒区的形成和扩大。动态晶粒。
截点法怎么测量晶粒度 你可以一下苏州欧卡精密光学仪器，他们是专业制造金相分析仪的，开发的金相软件多大几千种模块涉及各类金属材料的金相组织，软件自带金相自动评级，图谱对照评级，测量功能等等。是同类设备中质量、性能等都处于领先地位的。价格是在同类设备中处于性价比相当高的地位。同时还提供上门安装培训，由专业的老师（热处理协会）进行专业的培训教课。可根据自身需要进行1天到几个星期的培训时间选择。全国范围内都可享受提供的上门服务。截点法就是将处理好的模块，通过腐蚀后，在放在金相分析仪下面可以看到金属的金相组织，如铜的晶粒度，呈现出一个个小的不规则的晶粒（形状不规则，三角菱形等）。然后随即选择多个经线清晰的晶粒（以一个晶粒的对角线的两条交叉线为一个晶粒测量），最后以测量的几个晶粒的平均值为基准，在去对照表格找到相应的级别。
铝合金怎么用截线法求平均晶粒尺？铝合金怎么用截线法求平均晶粒尺寸？
Q1030焊接高强钢的奥氏体晶粒异常长大机理 Q1030工程机械用焊接高强钢采用低碳、微合金化设计，使钢在保证较高强度的同时，具有较好的焊接性能。钢中的Nb、V等微合金元素可以与C、N形成一系列的析出相粒子，在加热。
晶粒截距和晶粒尺寸是一样的吗？在我们知道晶粒度的情况下怎么测量出晶粒的尺寸？
峰宽和半峰宽的相同点不和不同点 相同点：1、峰宽和半峰宽都是色谱学名词，是在色谱峰两侧拐点处所作切线与峰底相交两点间的距离。2、半峰宽表示单位与峰宽相同。都可有三种单位：一是记录纸的距离(mm或cm)。
XRD晶粒尺寸计算 利用谢乐公式来计算谢乐公式的应用方法Dc=0.89λ/(B cos θ)(λ为X 射线波长，B为衍射峰半高宽，θ 为衍射角)双线法（Williams-Hall）测定金属晶体中的微观应力 晶块尺寸小于0.1μm，且有不均匀应变时衍射线宽化。可用谢乐方程或Hall法作定量计算。1 衍射线宽化的原因 用衍射仪测定衍射峰的宽化包括仪器宽化和试样本身引起的宽化。试样引起的宽化又包括晶块尺寸大小的影响、不均匀应变（微观应变）和e799bee5baa6e59b9ee7ad9431333262356662堆积层错（在衍射峰的高角一侧引起长的尾巴）。后二个因素是由于试样晶体结构的不完整所造成的。2 谢乐方程 若假设试样中没有晶体结构的不完整引起的宽化，则衍射线的宽化仅是由晶块尺寸造成的，而且晶块尺寸是均匀的，则可得到谢乐方程：式中Size表示晶块尺寸（nm），K为常数，一般取K=1，λ是X射线的波长(nm)，FW（S）是试样宽化(Rad)，θ则是衍射角(Rad)。计算晶块尺寸时，一般采用低角度的衍射线，如果晶块尺寸较大，可用较高衍射角的衍射线来代替。此式适用范围为1-100nm。3 微观应变引起的线形宽化 如果存在微观应力，衍射峰的加宽表示为：式中Strain表示微观应变，它是应变量对面间距的比值，用百分数表示。4 Hall方法 。
晶粒度和晶粒尺寸的测量 建议你认真看一下GB/T6394-2002，里面讲的十分详细。
哪位大侠有GB/T6394-2002金属平均晶粒度测定方法？要电子版的谢谢了 这个在这里有，我刚刚下了！完整版本！希望对你有帮助。标准编号：GB/T 6394-2002标准名称：金属平均晶粒度测定法标准状态：现行英文标题：Metal-methods for estimating the average grain size替代情况：YB/T 5148-1993(原标准号GB/T 6394-1986)实施日期：2003-6-1颁布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局内容简介：本标准规定了金属组织的平均晶粒度表示及评定方法。这些方法也适用于晶粒开关与本标准系列评级图相似的非金属材料。这些方法主要适用于单相晶粒组织，但经具体规定后也适用于多相或多组的试样中特定类型的晶粒平均尺寸的测量。本标准使用晶粒面积、晶粒直径、截线长度的单峰颁布来测定试样的平均晶粒度。这些分布近似正态分布。本标准的测定方法不适用于双峰分布的晶粒度。本标准的测量方法仅适用平面晶粒度的测量。也就是试样截面显示出的二维晶粒，不适用于试样三维晶粒，即立体晶粒尺寸的测量。本标准仅作为推荐性试验方法，它不能确定受检材料是否接收或适合使用的范围。出处：http：//www.csres.com/detail/68444.htmlhttp：//www.csres.com/upload/qy/in/GB-T6394-20021.pdf
