sio2的电离温度是多少？
SEM与TEM的区别 SEM，全称为扫描电子显微镜2113，5261又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy.TEM，全称4102为透射电1653子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission Electron Microscope.区别：SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像.TEM可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。TEM的分辨率比SEM要高一些。SEM样品要求不算严苛，而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下，一般做成直径3mm的片，然后去做离子减薄，或双喷（或者有厚度为20~40μm或者更少的薄区要求）。TEM可以标定晶格常数，从而确定物相结构；SEM主要可以标定某一处的元素含量，但无法准确测定结构。
TEM和SEM有什么区别？ （TEM）的放大倍数要比 扫描电镜（SEM）的高，当然两则的成像原理也是不同的，如果需要观察纳米颗粒在聚合物中的分散情况，你就必须要用TEM来观察了，SEM通常看材料的缺口。
