什么叫偏振相关损耗？ 偏振相关损耗（PDL）现已成为描述无源光器件特性的一项标准指标。当前主要有两种PDL测量方法：偏振扫描法和四状态法，后者一般也被称作Mueller法。本文将对这两种测量方法进行简要的介绍，概要说明其主要难题和主要的误差来源，并对其在当前无源器件测量中的实际应用进行比较。偏振相关损耗PDL是光器件或系统在所有偏振状态下的最大传输差值。它是光设备在所有偏振状态下最大传输和最小传输的比率。PDL定义如下：PDL_{dB}=10log〔\\frac{T_{Max}}{T_{Min}}〕其中Tmax和Tmin分别表示测试器件（DUT）的最大传输和最小传输。PDL对于光器件的表征至关重要，实际上，每个器件都表现为一种偏振相关传输。由于传输信号的偏振不仅局限于光纤网络之内，因此器件的插入损耗随偏振状态而异。这种效应会沿传输链路不可控制地增长，对传输质量带来严重影响。个别器件的PDL会在系统内造成大的功率波动，从而提高了系统的比特错误率，甚至会导致网络故障。结合偏振模色散（PMD），PDL可能成为脉冲失真和扩散的主要来源。在WDM网络的波长选择型器件中，PDL对应器件的光谱传输特征曲线而变化。此外，有些滤波器属性（如波动或通带带宽）也是偏振相关的。因此，波长PDL的测定就变得必。
