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透明矿物薄片的系统鉴定 干涉色级序及双折率的测定

2020-09-30知识32

干涉色及矿片上光率体椭圆半径方向和名称的测定 1.实习目的要求(1)学会正交偏光镜的检查与校正方法。(2)认识消光与干涉现象,熟悉I—Ⅲ级干涉色,认识高级白干涉色的特征。(3)学会使用石膏试板、云母试板在矿片上测定光率体椭圆半径方向和名称的方法。2.实习内容(1)检查上、下偏光镜振动方向是否正交,目镜十字丝是否与上、下偏光镜振动方向一致。(2)消光与干涉色的观察。(3)认识干涉色特征。(4)观察方解石的高级白干涉色。(5)矿片上光率体椭圆半径方向和名称的测定。3.实习步骤(1)单偏光镜下选择薄片中一个具极完全解理缝的黑云母,置于视域中心,移动物台,使黑云母解理缝与目镜十字丝之一平行。推入上偏光镜,如果黑云母不全黑暗(未达消光位),则转动物台,使黑云母变黑暗(达消光位)。推出上偏光镜,转动目镜,使十字丝之一与黑云母解理缝平行。此时,目镜十字丝与上、下偏光镜振动方向一致。(2)单偏光镜下在薄片中找一个石榴子石置于视域中心,推入上偏光镜,转动物台,观察其全消光现象。单偏光镜下在薄片中选一个具极完全解理缝的白云母置于视域中心,推入上偏光镜,白云母出现色彩即为干涉色,转动物台,干涉色逐渐发生变化,转物台一周可出现四明四暗现象。(3)在正交偏光镜间。

透明矿物薄片的系统鉴定 干涉色级序及双折率的测定

双折率的测定 测定矿物的双折率,必须在平行光轴(一轴晶)来或平行光轴面(二轴晶)的切面上进行。这两种切片的特征是:正交偏光镜间干涉色最高,锥光下显示平行光轴或平行光轴面的干涉图。根据光程差公式R=d(N1-N2),测出薄片厚度及光程差后源,即能确定双折率值。1.光程差的测定方法利用石英楔测定干涉色级序(方法同上),在干涉色色谱表上求百出相应的光程差。2.薄片度厚度的测定方法薄片厚度可利用已知矿物测定,最常用的已知矿物有长石和石英。在薄片中选一个已知矿物平行光轴切面。根据干涉色级序问测定其光程差。利用所测的光程差及最大双折率即可求出薄片厚度d=R/(N1-N2)。3.根据所求得的薄片厚度及光程差求双折率根据所测定的薄片厚度及光程差,在干涉色色谱表答上查双折率或根据R=d(N1-N2)计算双折率。

透明矿物薄片的系统鉴定 干涉色级序及双折率的测定

透明矿物薄片的系统鉴定 自然界中的矿物根据透明程度可分为透明矿物和不透明矿物。鉴定不透明矿物主要是通过挡住入射光利用反射光对矿物形态、颜色、光泽、解理等物理性进行鉴定。在偏光显微镜鉴定透明矿物之前,一般对所鉴定矿物需进行手标本的肉眼观察,有时在显微镜鉴定过程中,也还要与手标本观察相结合。肉眼观察手标本内容包括晶形、颜色、光泽、解理、断口、矿物的共生组合、次生变化等,并结合野外产状进行综合分析,再在偏光显微镜下进行透明矿物系统鉴定,它是对晶体光学一个小结,总结如何应用已学过的方法测定各种光学常数,从而鉴定未知矿物。一、透明矿物薄片系统鉴定的内容1.单偏光镜下的观察晶形 观察晶体的完整程度,结晶习性。根据各方向切面形态,初步判断晶体形状及可能属于那一个晶系。解理 观察解理的完全程度,根据不同方向切面上的解理,判断解理的组数。如为两组解理,需要测定解理夹角。尽可能确定解理与结晶轴之间的关系。颜色、多色性 观察矿片有无颜色,如有颜色,则观察有无多色性及多色性变化情况,并在定向切片上测定多色性公式及吸收公式。突起 观察薄片的边缘、糙面及突起明显程度,结合贝克线移动规律确定其突起等级,估计矿物折射率的大致范围。此外。

透明矿物薄片的系统鉴定 干涉色级序及双折率的测定

#双折射#光程差#偏光镜

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