扫描电镜的主要用途 大景深图像是扫描电镜观察的特色，例如：生物学，植物学，地质学，冶金学等等。观察可以是一个样品的表面，也可以是一个切开的面，或是一个断面。冶金学家已兴奋地直接看到。
什么是扫描电镜背散射模式 电子束流轰击到试样上，会产生电子跃迁，产生特征谱线，背散射探头接收这些信号，还原成图像后，就是背散射相，一般扫描电镜标配二次电子探头及背散射探头，二次电子相为形貌相。
要用扫描电镜观察不导电样品，可以采取哪些措施避免放电对图像清晰的影响 扫描电镜对不导电样品的处理是比较常见的问题，可以采用的方法有几种。尽量将块状样品做小，甚至做成粉末，使样品与样品座的接触良好。对观察样品进行镀金或喷碳处理，使样品表面形成导电膜，利于电荷流走。最好再用导电胶将喷碳或喷金后的样品表面与样品座（台）连接，以减少电子积累。对于无法很好解决放电效应对图像影响的，可以加快扫描速度，或用集成模式采集图像，以抑制电荷积累。用扫描电镜的背散射探头采集图像，几乎不会有放电效应，因为背散射信号强度比较高，不会为放电电荷干扰。
环境扫描电镜图像分析是基于环境扫描电镜上采集的背散射电子图像，并通过图像分析软件进行统计计算，实现孔喉结构的定量分析。综合各种资料，对碎屑岩储层图像分析结果主要根据孔隙和喉道大小进行分级评价，同时结合分选系数、配位数、孔隙分布尖度、偏度等进行综合评价(表6-5)。表6-5 碎屑岩储层环境扫描图像分析分级标准分别对依奇克里克构造带阳霞组和阿合组钻井和露头样品进行了环境扫描电镜图像分析，同时针对该地区井下碎屑岩储层裂缝发育的特点，对依南2井、依南4井部分样品分垂直和平行岩块层面两个方向切片分别测试。据依南2井5块样品分析，统计面孔率区间为0.15%～9.26%，分选系数介于0.66～1.3之间，分选中等-较差，说明孔隙分布的非均质性强；偏度为正偏，说明孔隙以大孔、中孔为主；尖度很平坦-平坦者占80%，说明孔隙大小分布区间较大。孔喉以中孔-粗喉、大孔-粗喉、小孔-中喉组合为主。当面孔率值大于4%时，以大孔为主，大孔百分比可达97.28%；面孔率值为1%～4%时，以中孔为主；面孔率值时，以小孔为主。两个方向所统计的面孔率值有一定差异。据依南4井10块样品的分析，统计面孔率区间为0.22%～8.23%，分选系数为0.61～1.3，分选中等-较差，偏度均为正偏。
利用扫描电镜分析时二次电子与被散射的区别。 1、分辨率不同二次电子的分辨率高，因而可以得到层次清晰，细节清楚的图像，被散射电子是在一个较大的作用体积内被入射电子激发出来的，成像单元较大，因而分辨率较二次电子像低。2、运动轨迹不同（1）被散射电子以直线逸出，因而样品背部的电子无法被检测到，成一片阴影，衬度较大，无法分析细节，但可以用来显示原子序数衬度，进行定性成分分析。二次电子对试样表面状态非常敏感，能有效地显示试样表面的微观形貌。（2）利用二次电子作形貌分析时，可以利用在检测器收集光栅上加上正电压来吸收较低能量的二次电子，使样品背部及凹坑等处逸出的电子以弧线状运动轨迹被吸收，因而使图像层次增加，细节清晰。3、能量不同（1）二次电子是指当入射电子和样品中原子的价电子发生非弹性散射作用时会损失其部分能量(约 30～50 电子伏特)，这部分能量激发核外电子脱离原子，能量大于材料逸出功的价电子可从样品表面逸出，变成真空中的自由电子。（2）被散射电子是指被固体样品原子反射回来的一部分入射电子。既包括与样品中原子核作用而形成的弹性背散射电子，又包括与样品中核外电子作用而形成的非弹性散射电子，所以被散射电子能量较高。扩展资料：应用范围⑴生物：。
物理与数值模拟方法 （一）物质平衡再造古高度法集水盆地的古地形对湖泊系统起着重要的作用，所以恢复集水盆地的古地形是古湖泊学研究的一个重要方面。所谓古地形就是要确定古高度，而古高度有绝对和相对两种含义：绝对的古高度指距离当时海平面的古高程即古海拔，相对的古高度指不同地点的高差与地形的起伏程度。前第四纪古地形再造的主要依据是沉积地层，而沉积物通常保存在负地形中，例如根据沉积物及所含化石可以再造盆地的古深度。至于剥蚀区的正地形，由于难以留下直接的地质记录，长期以来只能猜测而无从再造。地质学能在不同程度回答“水多深”，而不能回答“山多高”的问题，再造古高度要比古深度困难得多。近年来地球科学的发展，开始为古高度的再造探索提供了途径，物质平衡再造古高度法就是其中的一个。物质平衡再造古高度法是一种计算机模拟的方法，其基本构思是逆演沉积充填过程，即把各段地质时期里堆积在湖盆内的沉积物顺次“挖出”，并按照可辨认的特征“回归”到集水盆地去，再经过一系列的校正处理，就可以求出各时期集水区的古地形图。其原理是“质量守恒”：假定研究区内物源区和沉积区在碎屑物沉积搬运上是处在一个封闭系统之中，则剥蚀物的质量应当等于沉积物的。
扫描电镜与透射电镜的区别？ 1、结构差异：主要体现在样品在电子束光路中的位置不同。透射电镜的样品在电子束中间，电子源在样品上方发射电子，经过聚光镜，然后穿透样品后，有后续的电磁透镜继续放大电子光束，最后投影在荧光屏幕上；扫描电镜的样品在电子束末端，电子源在样品上方发射的电子束，经过几级电磁透镜缩小，到达样品。当然后续的信号探侧处理系统的结构也会不同，但从基本物理原理上讲没什么实质性差别。2、基本工作原理：透射电镜：电子束在穿过样品时，会和样品中的原子发生散射，样品上某一点同时穿过的电子方向是不同，这样品上的这一点在物镜1-2倍焦距之间，这些电子通过过物镜放大后重新汇聚，形成该点一个放大的实像，这个和凸透镜成像原理相同。这里边有个反差形成机制理论比较深就不讲，但可以这么想象，如果样品内部是绝对均匀的物质，没有晶界，没有原子晶格结构，那么放大的图像也不会有任何反差，事实上这种物质不存在，所以才会有这种仪器存在的理由。扫描电镜：电子束到达样品，激发样品中的二次电子，二次电子被探测器接收，通过信号处理并调制显示器上一个像素发光，由于电子束斑直径是纳米级别，而显示器的像素是100微米以上，这个100微米以上像素所发出的光，就。
扫描电镜背散射电子图像怎么分析 第一、扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。背散射电子像主要反映样品表面元素分布情况，越亮的区域，原子序数越高。第二、看表面形貌，电子成像，亮的区域高，暗的区域低。非常薄的薄膜，背散射电子会造成假像。导电性差时，电子积聚也会造成假像。
什么是SEM？
