CP测试简单介绍 最低0.27元开通文库会员，查看完整内容>；原发布者：都市风车CP测试简介CP测试的意义和作用1.提高FTyield，降低封装成本。2.帮助foundry控制工艺。3.裸片测试。CP测试的工具探针Probecard固定在loadboard上面，一起装在ATE上面。prober装上loadboard后ATE的测试头翻转，如右图，然后扣在prober上面ATEProbecard制作前的准备工作1.选ATE和prober。prober厂家TEL，TSK，EPSON国内装机比较多的是TEL-P8，P12，TSK-UF200，UF30002.同测数和芯片PAD的坐标数据。3.Loadboard和probecard制作厂家的选择。probecard的制作厂家(1)日本厂家有JEM，MMS(旺杰芯)，TCL(2)美国厂家PROBERLOGIC，KNS，CASCADE，multitest(3)台湾probeleader，上海菁成(4)国产沈阳的圣仁，上海依然，江阴JCAP根据针的数目，PAD的尺寸和间距来选择合适的厂家，一般都能做到10um精度，但是5um以下的精度就要选择比较好的厂家。探针材质选择钨针：优点：成本低，硬度/抗疲劳性佳，寿命长。缺点：易沾粘异物或化学物质造成阻抗增加，且不适用高电流测试。铼钨针：优点：硬度/抗劳性佳，稳定度佳适合长时间测试。缺点：接触电阻成本较高。BeCu针：优点：接触电阻较不易沾粘异物。缺点：易秏损，弹性较差。Probecard的制作和使用注意。
mask rom 芯片两片是epson的，两片是三菱的，引脚通用，sop44封装。能否用编程器读出来，复制？ 可以 前提是你必须要有16位闪存SOP44 转换座的 编程器 你能力够强 也可以把TSOP的29LV320 44个脚引到 电路版上去 目前SOP44封装的32M闪存不好找 TSOP的大把有 引脚通用的闪存 读出来问题不大 但是擦写 就要必须编程器型号支持了 型号不支持 部分针脚信号波形不一样写进去 就不容易成功 有可能只能擦除成全空FF状态 闪存读的原里基本就那些个没怎么变化 这片闪存是29LV320 32兆的 16位的（数据线Q0到Q15）就相当于电脑里的4MB 容量 29F系列是8位的 不通用 要29LV 29DL 29GL 系列 封装 电压 规范相同的才兼容 8位闪存电压是5V的 16位闪存电压是3V的 不一样哦 不过都接到5V电压 读起来问题也不大 但是 擦写就有问题了
存储卡是什么 SD卡存储卡，是用于手机、数码相机、便携式电脑、MP3和其他数码产品上的独立存储介质，一般是卡片的形态，故统称为“存储卡”，又称为“数码存储卡”、“数字存储卡”、。
